Cтраница 4
Выше обсуждались меры пространственного разрешения для точечных и распределенных мишеней и проблемы, связанные с их точным определением. Измерения в продольном и поперечном по отношению к пучку направлениях требуют несколько отличных методик, но в обоих случаях их результаты лучше всего выражать через ширину огибающей импульса или профиль пучка, соответствующий эхо-сигналу от точечного объекта, например от маленького стального шарика. [46]
Необходимым условием достижения повышенного пространственного разрешения является увеличение экспозиционной дозы. В то же время ( рис. 6) величина реального предела пространственного разрешения и количественные характеристики пространственного разрешения в переходной зоне в решающей степени определяются видом передаточной функции конкретного томографа H ( k) и в конечном счете - реальными свойствами элементов конструкции томографа. [47]
Необходимым условием достижения повышенного пространственного разрешения является увеличение экспозиционной дозы. В то же время ( рис. 6) величина реального предела пространственного разрешения и количественные характеристики пространственного разрешения в переходной зоне в решающей степени определяются видом передаточной функции конкретного томографа Н ( К) и в конечном счете - реальными свойствами элементов конструкции томографа. [48]
Уточненные требования к пространственному разрешению материалов космической съемки, необходимых при топографическом картировании, представлены ьтабл. [49]
Лазерный микроскоп типа Mark III фирмы Jarrcll Ash Division of Fisher Scientific Company. [50] |
Было установлено, что пространственное разрешение не превышает, как правило, - 1 мм. Кроме того, эти методы пригодны только для анализа поверхностей, проводящих электрический ток. Если поверхность является непроводящей, то локальный анализ можно провести только косвенным путем. [51]
Следует отметить, что пространственное разрешение гамма-камеры, то есть сочетания ПЧД и коллиматора, значительно хуже и составляет около 9 мм для объектов, расположенных на расстоянии 10 см от среза коллиматора. Такое ухудшение определяется свойствами используемых коллиматоров. При удалении источника от среза коллиматора увеличивается ширина распределения скорости счета, полученного при перемещении точечного источника параллельно плоскости коллиматора. Это увеличение происходит за счет увеличения области полутени в поле зрения отверстия. [52]
Факторы, влияющие на пространственное разрешение протяженного объекта на контрастном фоне, обсуждались в гл. [53]
В общем случае оценка пространственного разрешения в ПРВТ зависит от контраста ЛКО и формы контролируемых структур, уровня экспозиционной дозы и психофизических особенностей оператора, если в процессе расшифровки томограммы он визуально оценивает надежность разрешения ( раздельного восприятия) данных структур. [54]
Рентгенограммы конструкционных материалов на основе углерода.| Рентгенотомограм-ма толстостенной металлической конструкции.| Рентгенотомограмма металлической отливки. [55] |
Сочетание высокой точности и пространственного разрешения по трем координатам позволяет методом ПРВТ решать задачу количественных оценок распределений размеров волокон, пор, частиц наполнителей, контроля изменения геометрии и плотности структурных элементов в процессе отверждения матрицы, нагружения конструкций и других внешних воздействий. [56]
В общем случае оценка пространственного разрешения в ПРВТ зависит от контраста ЛКО и формы контролируемых структур, уровая экспозиционной дозы и психофизических особенностей оператора, если в процессе расшифровки томограммы он визуально оценивает надежность разрешения ( раздельного восприятия) данных структур. [57]
Рентгенограммы конструкционных материалов на основе углерода.| Рентгенотомограм-ма толстостенной металлической конструкции.| Рентгенотомограмма металлической отливки. [58] |
Сочетание высокой точности и пространственного разрешения по трем координатам позволяет методом ПРВТ решать задачу количественных оценок распределений размеров волокон, пор, частиц наполнителей, контроля изменения геометрии и плотности структурных элементов в процессе отверждения матрицы, нагружения конструкций и других внешних воздействий. [59]
Рассмотрим теперь вопрос о пространственном разрешении бистабильных оптически управляемых ПВМС. В случае цх дискретной структуры разрешение, естественно, определяется технологией объединения элементов в матрицу. Более интересен этот вопрос Для однородных структур. Здесь паразитная связь между соседними участками ПВМС ( электрическая, и главным образом, оптическая - в результате дифракции или рассеяния) в условиях наличия обратной связи между входом и выходом приводит к следующему. [60]