Вертикальное разрешение

Cтраница 1

Вертикальное разрешение при определении концентрации озона О, составляет 5 км. Угол сканирования и время интегрирования изменяются в пределах от 2 до 31 и от 0.1 до 3000 с, соответственно. При этом ширина полосы обзора изменяется от 120 до 960 км, а горизонтальное разрешение - от 40 х 40 км до 40 х 320 км. [1]

I number Установить горизонтальное и вертикальное разрешение в dpi ( точках на дюйм), равное number. Эта опция определяет, какой из растровых шрифтов будет загружен, и также влияет на позиционирование глифов в резидентных PostScript овских шрифтах. [2]

В зависимости от вертикального разрешения модели вблизи подстилающей поверхности схемы параметризации планетарного пограничного слоя можно условно разделить на два класса. Если разрешение таково, что внутри пограничного слоя находится не более одного уровня, то применяются схемы параметризации, описывающие весь пограничный слой в целом и основанные на использовании коэффициентов сопротивления, зависящих от характеристик земной поверхности. Если же в пограничном слое расположено несколько уровней, то можно в явном виде описать вертикальную структуру этого слоя, а потоки на поверхности можно определить в соответствии с теорией подобия Монина-Обухова. [3]

В проведенных численных экспериментах было осуществлено лишь очень грубое вертикальное разрешение атмосферы - на четыре слоя с границами на высотах 1 5; 4 5 и 11 км. [4]

Очевидно, следует ожидать, что при использовании обычных приборов вертикальное разрешение будет не лучше предельного горизонтального, что составляет 3 - 10 нм. [5]

Наблюдение осуществляется в ИК-диапазоне 4.15 - 14.6 мкм со спектральным разрешением 0.025 линий на см. Вертикальное разрешение составляет 3 км, диапазон вертикального сканирования 5 - 100 км. [6]

Объект экран ( screen) предоставляет информацию об установках экрана, включая разрядность цвета, горизонтальное и вертикальное разрешение. [7]

Прибор RIS массой 50 кг имеет диаметр 50 см и предназначен для исследования озона, фторуглеродов, двуокиси углерода и других малых газовых составляющих при помощи наземного шерп работящего в диапазоне 0.4 - 14 мкм. Пространственное вертикальное разрешение составляет несколько километров и зависит от типа анализируемого газа. [8]

Исходя из физических аспектов образования вторичных электронов и возможностей регистрируемой аппаратуры, предельное вертикальное разрешение составляет 10 нм. [9]

С другой стороны, электроны проводимости в металле, в общем случае, свободно перемещаются на очень большие ( по атомным масштабам) расстояния - они не локализованы. Это особенно относится к металлам с почти свободными электронами и несколько менее справедливо для переходных металлов, где, например, в валентной полосе имеются довольно локализованные Sd-электроны. Поэтому СТМ-экс-перименты на металлических поверхностях требуют более высокого горизонтального и вертикального разрешения, чем на поверхностях полупроводников. Это, в свою очередь, означает, что требуется более строго контролировать электронные и вибрационные условия эксперимента и необходимо иметь чрезвычайно тонкий кончик острия. [10]

Спектрометр SCIAMACHY ( Scanning Imaging Absorption Spectrometer for Atmospheric Cartography) обеспечивает продолжение наблюдений, начатых с использованием аппаратуры GOME, установленной на ИСЗ Ers-2. Спектрометрические измерения осуществляются с целью определения температуры средних слоев атмосферы, построения тропосферных и стратосферных профилей О2, О3, О4, СО, N2O, NO2, CO2, СН4, Н О, анализа концентрации малых газовых компонентов NO, HF, ВЮ, СЮ, ОС1О в стратосфере и НСНО, SO2, NO3 в тропосфере. В режиме лимба вертикальное разрешение составляет 3 км, ширина полосы обзора 600 км. [11]

При этом контрастность следует установить на минимум. По деталям в центре таблицы проверяется и регулируется статическое сведение, динамическое сведение может быть отрегулировано по вертикальным пересекающимся и горизонтальным линиям тест-таблицы. По ним же контролируются и регулируются геометрические искажения. Таблица позволяет проверить горизонтальное и вертикальное разрешение по соответствующим клиньям, переходные характеристики канала передачи. [12]

Параметры шероховатости поверхности. [13]

К числу бесконтактных методов относится также изучение шероховатых поверхностей с помощью электронной микроскопии. В частности, для этой цели применяется растровая электронная микроскопия, использующая для формирования изображения низкоэнергетические вторичные электроны. Профиль поверхности оценивается по изменению интенсивности эмиссии вторичных электронов при повороте образца. Прибор соединен с компьютером и позволяет определять стандартные характеристики шероховатости. Поскольку вертикальное разрешение составляет около 10 нм, метод можно применять и для измерения субмикрошереховатости. [14]

Страницы: 1