Спектральное разрешение

Cтраница 1

Спектральное разрешение в ЯМР - ширина синглетной линии спектра, о которой известно, что она узкая, как, например, линии Н ТМС или бензола. Этот параметр зависит как от приборных факторов, так н от качеств образца. [1]

Спектральное разрешение в установках РФС 1010, а временное разрешение при использовании лазерного источника света составляет 10 - 9 с. РФС-метод используется для метаста-бильных состояний, для изучения продуктов элементарных реакций, пламен, цепных разветвленных реакций. [2]

Спектральное разрешение таких фильтров может достигать - пм в спектральном диапазоне - 60 нм. Точность измерения в таких системах ограничивается температурной стабильностью их характеристик. [3]

Спектральное разрешение - от 1 4 до 12 А, временное - от 1 6 - 10 - 5 до 10 - 7 сек, при линейной скорости фотопластинки от 30 до 350 м.сек. Прибор снабжен электронной системой и пультом для автоматического управления на расстоянии. [4]

Спектральное разрешение, получаемое при измерении поглощения с помощью одномодовых перестраиваемых лазеров, определяется собственной спектральной шириной моды, стабильностью ее частоты, скоростью сканирования и постоянной времени приемника излучения. [5]

Рассмотрим теперь спектральное разрешение и аберрации решеток, работающих во внеплоскостной схеме. [6]

Скелетная схема, поясняющая принцип работы скоростного спектрофотометра. [7]

При измерениях поглощения спектральное разрешение спектрофотометра составляет 6 ммк. В приборе имеется устройство, позволяющее выделять на экране любые участки кривой, увеличивая их втрое по обеим координатам. [8]

Селективность определяется прежде всего спектральным разрешением и зависит от интервала длин волн испускаемого излучения, который может быть измерен с помощью используемого спектрометра. [9]

Экспериментальное исследование дрейфа экситода ( 1. а - поле напряжений, создаваемое неоднородной деформацией. проведены теоретические контуры постоянной щели ( ширины запрещенной зоны. Экситоны дрейфуют в иоле сил F. t - Ем в область минимума потенциальной энергии, б - кривые, полученные сканированием люминесценции э кантонов при разных энергиях фотонов. Максимум люминесценции дает величину Eg ( x, градиентом которой определяется локальная сила, действующая на экситои. Острые пики отвечают рассеянию света поверхностями кристалла, е - время рассеяния эксйтоаов, определяемое ио их дрейфовой скорости - в поле сил F. Уравнение пря. [10]

Чтобы обеспечить пространственное ж спектральное разрешение излучения люминесденщщ, он сканировал хорошо сфокусированное изображение кристалла узкой входной щелью спектрометра. [11]

Двумерное изображение объекта, полученное при использовании спектрального. [12]

Современные спектральные приборы позволяют получать высокое спектральное разрешение в пределах оптического изображения, однако с их помощью нельзя восстановить спектрограммы двумерных объектов. [13]

Конечно, такой фильтр характеризуется ограниченным спектральным разрешением, и выделяемое им излучение не столь монохроматично, как при записи. Чем больше отражающих слоев содержит объемная голограмма, тем выше степень монохроматичности восстановленного пучка. [14]

Если же рассматривать линии при недостаточном спектральном разрешении, то возникает принципиальная трудность, состоящая в том, что при увеличении оптической толщины слоя линия изменяет свою форму в соответствии со сказанным по поводу фиг. [15]

Страницы: 1 2 3 4