Распределение - неравновесный носитель - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Когда-то я думал, что я нерешительный, но теперь я в этом не уверен. Законы Мерфи (еще...)

Распределение - неравновесный носитель

Cтраница 1


Распределение неравновесных носителей по энергиям в энергетической зоне по существу не отличается от равновесного. Поэтому подвижности неравновесных носителей, их вероятности рекомбинаций и другие характеристики являются совпадающими в среднем с соответствующими характеристиками равновесных носителей тока.  [1]

Анализ параметров распределения неравновесных носителей в базе в зависимости от их концентрации показал [118], что люкс-амперные характеристики таких фототранзисторов в зависимости От типа структуры и физических параметров полупроводника базовой области могут быть самыми разнообразными. При достаточно больших смещениях на ВАХ три-одных структур появляется участок отрицательного дифференциального сопротивления.  [2]

Чем отличаются законы распределения неравновесных носителей в базе дрейфового и бездрейфового транзистора.  [3]

Мы установили, что распределение неравновесных носителей по энергиям в зоне подавляющую долю времени их свободного существования не отличается от равновесного.  [4]

На рис. 1.15 изображено распределение неравновесных носителей в отсутствие и при наличии электрического поля. Поскольку при решении задачи предполагалось выполнение электронейтральности, изображенное на рис. 1.15 распределение носителей заряда справедливо одновременно для неравновесных электронов и дырок.  [5]

Для диода с неоднородной базой решено уравнение непрерывности и определены распределение неравновесных носителей и вольтамперная характеристика р-п перехода. Получено выражение скорости рекомбинации на контакте через электрофизические параметры полупроводника. Для определения частотной зависимости проводимости р-п перехода уравнение непрерывности для диода с неоднородной базой сведено к уравнению диода с бесконечной базой, решение которого дало зависимость сопротивления потерь, совпадающую с экспериментальными. Влияние невыпрямляющего контакта полностью учитывается введением эффективного времени жизни неравновесных носителей в базе.  [6]

7 Прямые ветви ВАХ диодов из rt - GeAu при Т77К, снятые при разных уровнях освещения. Интенсивность засветки увеличивается от кривой 1 к кривой 6.| Зависимость токовой фоточувствительности от напряжения для двух образцов диодов из. [7]

Величина Kg характеризует усиление, определяемое непосредственно влиянием - засветки на параметры распределения неравновесных носителей в базе. Особенно сильно оно проявляется при примесной засветке.  [8]

9 Схематическое изображение распределения песка, проходящего через щель в ящике ( аналогичное распределение неравновесных носителей в средней области. [9]

Кроме того, следует учитывать, что взаимодействие двух переходов приводит к некоторому изменению закона распределения неравновесных носителей.  [10]

Однако оказывается, что при некотором условии измеряемая фотопроводимость образца Да перестает зависеть от характера распределения неравновесных носителей в образце и определяется только их полным количеством.  [11]

Чтобы получить более простое выражение для проводимости, используем тот факт, что для ее определения необходимо знать распределение неравновесных носителей лишь в окрестности x Q. Для этого преобразуем дифференциальное уравнение ( 1) к виду, который справедлив лишь в окрестности х 0, но дает простое решение типа ( 9), как в стационарном случае.  [12]

13 Упрощенная эквивалентная схема цепей транзистора-ключа в состоянии включено.| Переходные искажения. [13]

Величина тэфф может отличаться от тэфф, поскольку в области насыщения оба р-п перехода находятся под прямым смещением и это существенно изменяет распределение неравновесных носителей и влияние поверхности и пассивных объемов полупроводниковой пластинки на их время жизни.  [14]

Величина т фф может отличаться от тэфф, поскольку в области насыщения оба р-п перехода находятся под прямым смещением; это существенно изменяет как распределение неравновесных носителей в базе, так и влияние поверхности и пассивных объемов полупроводниковой пластинки на их время жизни.  [15]



Страницы:      1    2