Распределение - отклонение
Cтраница 3
Эта зависимость ( распределение отклонений) подчиняется математическим законам распределения ошибок. Использование методов математической статистики дает возможность учесть влияние указанных отклонений на коэффициент ср. В работе [80] изложен общий метод решения поставленного вопроса. Конкретный выбор расчетной кривой для различных случаев должен производиться на основании статистических обследований и анализа действительных условий изготовления конструкций. Применение предложенной методологии должно привести к экономии стали в сжатых элементах металлических конструкций. [31]
Структуроскоп позволяет обнаруживать распределение отклонения диэлектрической проницаемости от средней величины по образцу и ее анизотропию. [32]
Можно установить характер распределения отклонений внутри поля допуска, если для наглядности принять, что распределение подчиняется закону Гаусса. [33]
При нормальном законе распределения отклонений параметров, входящих в схему элементов по заданным допускам оэ на парамет - ры элементов и известным средним значениям параметров М ( уэ), определяют допуск на выходной параметр схемы о, и его среднее значение М ( у) с учетом степени влияния каждого элемента на выходной параметр. [34]
Для других законов распределения отклонений размеров, отличных от закона нормального распределения, критерий Райта изменяется соответственно их допустимым предельным отклонениям от центра группирования ( гл. [35]
Принимая нормэльный закон распределения отклонений величины доз и пользуясь тем, что соотношения между различными статистическими характеристиками при этом законе нам известны, можем вести исследование зависимости любой из статистических хэрактеристик разброса от длительности доз. В качестве такой характеристики целесообразно взять среднее квадрэтическое отклонение. Принятые допущения позволяют использовать для исследования зависимости величины среднего квадратического отклонения от длительности доз известный аппарат теории случайных процессов. Для анализа интересующих нас зависимостей достаточно провести преобразования нескольких типов спектров, на которые может быть разложен любой спектр отклонений величины доз. [36]
Для симметричных законов распределения отклонений размеров деталей и совпадения пределов рассеивания с границами поля допуска ( или одинаково отстоящих от них) среднее значение отклонений размеров равно координате середины поля допуска, ( см. фиг. [37]
Не задан закон распределения отклонения контролируемого параметра. Значение R определяется не по номограммам, а из табл. 2 для равновероятносго закона распределений отклонений контролируемых параметров. [38]
При симметричном законе распределения отклонений выходного параметра электронной цепи и заданном допуске на него наибольшие допустимые отклонения параметра, а значит, и наибольшие допуски на параметры схемных элементов возможны тогда, когда среднее значение отклонений соответствует координате середины поля допуска. [39]
В табл. 1 дано распределение отклонений от прямолинейности для ряда измеренных плоскостей деталей и подсчитаны средние арифметические значения ( аср) - В некоторых случаях ( при сравнительно большом числе измерений) были построены кривые нормального распределения. [40]
В то же время распределение отклонений при измерении ударной скорости указывает на значительную вариацию. Как видно, каждая из формул дает различную оценку вариации измеряемого параметра по одним и тем же результатам эксперимента, поскольку оценка ведется с различных позиций. Формула ( 126) учитывает максимально возможную разницу между результатами замера, имеющую наименьшую вероятность, и поэтому ей целесообразно пользоваться не для оценки действительной вариации параметра, а для характеристики разброса данных эксперимента. Формула ( 128) преувеличивает влияние больших погрешностей, но с точки зрения погрешности эксперимента более справедливо оценивает вариацию измеряемой величины. [41]
На рис. 25 показано распределение отклонений от номинального значения, полученных при изучении стабильности источника напряжения, и полигон распределения. [42]
Индивидуальные негативные состояния ( распределение отклонений) отображаются ровным светом ( или цветом) индикаторов, располагаемых на пульте; индивидуальные негативные события ( возникновение каждого нового отклонения) отображаются мерцающим светом тех же индикаторов, с помощью которых - отображаются негативные состояния, и зв. [43]
Было показано, что распределение отклонений параметров ламп, полупроводниковых приборов, конденсаторов, сопротивлений и так далее в пределах поля допуска часто соответствует нормальному закону распределения или близко к нему. [44]
 |
Сопоставление расчетных и измеренных значений температуры газов. [45] |
Страницы: 1 2 3 4