Распределение - яркость
Cтраница 1
Распределение яркости на экране устройства воспроизведения ( телевизионное изображение) в устройствах визуализации отражает распределение энергии невидимого излучения в поле сканирования, а также обусловлено спектральной чувствительностью преобразователя ( детектора) изображения. В процессе интерпретации ( диагностика, распознавание и др.) необходимо учитывать определенную условность формируемого изображения, непростую связь наблюдаемого изображения с физическими характеристиками изучаемой сцены. [1]
Распределение яркости на объекте может быть представлено функцией О ( г /, z), равной единице всюду, за исключением маленького участка s поверхности, окружающего начало координат, на котором она равна нулю. [2]
 |
Схема звездного интерферометра Майкельсона.| Применение зеркал в звез. [3] |
Распределение яркости в фокальной плоскости при небольшом расстоянии D представлено на рис. 564 а пунктиром для каждой зве щы в отдельности и сплошной кривой, ординаты которой равны сумме ординат пунктирных кривых для суммнр-ной картины. При раздвижении отверстий полосы каждой звезды делаются более частыми ( Ъ уменьшается), в то время как расстояние а между нулевыми полосами остается постоянным. [4]
Распределение яркости не только во времени, но и в пространстве влияет на зрительную работоспособность. [5]
Распределение яркости имеет особое значение для промышленных осветительных установок, где условия освещения влияют на работоспособность зрения, а следовательно, на уровень производительности труда. [6]
Распределение яркости по потолку должно быть достаточно равномерным, без теней и светлых пятен, вследствие того что линия зрения лежащего больного обычно направлена не горизонтально, а - под углом вверх. Равномерно освещенный потолок с относительно невысокой яркостью должен действовать на больных успокаивающе. [7]
Распределение яркости по поперечному сечению строки развертки определяется прозрачностью развертывающего пятна. [8]
 |
Зависимость интенсивности отраженных электронов ( относительные единицы от порядкового номера элемента ( Яо30 кэВ. л 0 0l5 0 0115z для z30. t 0 33 8 94 - 10 - ( z30 для z 30. [9] |
Распределение яркости в изображении ОЭ для полированного и травленого однофазного и сложного объектов схематически представлено на рис. 22.10. В действительности контраст электронных изображений в РЭМ может оказаться более сложным. В формировании изображения участвуют в разной степени и ОЭ и ВЭ, контраст зависит от траектории движения ВЭ, на которую влияют и особенности рельефа образца, и распределение потенциала в камере объекта. От величины и распределения потенциала зависит и число электронов, эмитти-руемых разными точками объекта. При этом особенно важным является усиление эмиссии на острых выступах образца ( эти участки в изображении видны особенно яркими) и различия потенциала на поверхности объекта, обусловленные особенностями его электрических свойств, электрических свойств пленок и других веществ на поверхности объекта. [10]
 |
Оптическая схема профилометра Ю. В. Коломийцева. [11] |
Распределение яркости полос в многолучевом интерферометре отличается от синусоидального, свойственного двухлучевым схемам. Полосы значительно уже, что определяется коэффициентом отражения сравниваемых поверхностей. При коэффициенте отражения р л 0 94 распределение яркости полосы почти прямоугольное. [12]
 |
Оптическая схема профилометра Ю.В. Коломийцева.| Схема многолучевого интерферометра. [13] |
Распределение яркости полос в многолучевом интерферометре отличается от синусоидального, свойственного двухлучевым схемам. Полосы значительно уже, что определяется коэффициентом отражения сравниваемых поверхностей. При коэффициенте отражения р 0 94 распределение яркости полосы почти прямоугольное. [14]
 |
Оптическая схема профилометра Ю.В. Коломийцева.| Схема многолучевого интерферометра. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5