Амплитудное распределение
Cтраница 1
Амплитудное распределение характеризует дискретную АЭ уже как слу - чайный процесс. [1]
Амплитудное распределение зависит от свойств сцинтиллятора, его геометрических размеров, условий облучения. В кристаллах больших размеров подавлен комптоновский спектр и за счет этого увеличен фотопик. [2]
Амплитудные распределения можно получить более непосредственно и точно с помощью одноканального анализатора. Этот прибор состоит из двух дискриминаторов и схемы антисовпадений, пропускающей импульс лишь в том случае, если его амплитуда попадает в интервал между двумя уровнями дискриминации. Обычно интервал импульсов охватывает область от 0 до 50 в или от 0 до 100 в в ламповых анализаторах и от 0 до 10 в - в транзистиро-ванных. Соответствующим выбором коэффициента усиления различные участки амплитудного спектра приводятся к указанной области. Часто используются ширины каналов от 0 5 до 10 % полного интервала. Необходима также высокая стабильность дискриминаторов, усилителя и источника высокого напряжения. [3]
 |
Распределение на одном периоде решетки линий постоянной амплитуды магнитного поля для к - 2 5. 6 0 5. Л 0. [4] |
Амплитудное распределение при z h в этой ситуации имеет периодическую структуру с почти квадратными ячейками. Ячейки образуются, как и в случае, изображенном на рис. 48, в результате сложения четырех попарно перпендикулярных волн практически с единичной амплитудой каждая ( а01 0 75; а 11 1) Величина поля внутри щели меньше максимальных значений вне решетки в то время как в Я-случае в аналогичной ситуации поле внутри щели достигало нескольких десятков единиц. [5]
Амплитудное распределение зависит от свойств сцинтиллятора, его геометрических размеров, условий облучения. В кристаллах больших размеров подавлен комптоновский спектр и за счет этого увеличен фотопик. [6]
 |
Модуляция скважности штрихов дифракционно - амплитудной путем итеративного го микрорельефа. [7] |
Заданное амплитудное распределение дополняют какой-либо стохастической или специально рассчитанной детерминированной фазой и осуществляют пересчет в плоскость голограммы. Получившееся амплитудное распределение в плоскости голограммы заменяют на амплитудное распределение освещающего пучка, и осуществляют обратный пересчет. [8]
Амплитудное распределение АЭ при фрикционном взаимодействии твердых тел обусловлено изменением энергии упругости поверхностных и приповерхностных слоев и существенным образом зависит от их свойств - параметров шероховатости, наличия микроповреждений, наличия и качества смазочного слоя и др. Поэтому характеристики амплитудного распределения могут являться эффективными диагностическими параметрами при контроле узлов трения. [9]
Амплитудное распределение освещенности по любой апертурной системе, такой, как рассматриваемая выше щель-амплитудное пропускание системы-характеризуется апертурной функцией. На рис. 2.1 6 апер-турная функция f ( x) имеет простую прямоугольную форму ( цилиндр), т.е. равна постоянному значению h по всей ширине одиночной щели и вне ее. [11]
 |
Зонирование радиолинз. а - замедляющей. б - ускоряющей. в - иепреломляющей поверхности. ВЗ - вредные зоны. [12] |
Амплитудное распределение зонированных линз рассчитывается для каждой зоны отдельно, причем из-за изменения фокусного расстояния распределение от зоны к зоне будет изменяться скачком. [13]
Форма амплитудного распределения, которое получается на выходе гамма-спектрометра при регистрации моноэнергетического - у-излучения, является сложной и зависит от многих факторов. Конечно, форму амплитудного распределения в первую очередь определяют основные процессы взаимодействия у-излучения с веществом детектора. С другой стороны, на форму амплитудного распределения оказывает определенное влияние ряд факторов, обусловленных протеканием вторичных процессов в детекторе, особенностями конструкции гамма-спектрометра, составом измеряемой смеси радиоизотопов. Важное значение имеют также вещественный состав, масса и геометрическая форма пробы, излучение которой подвергается у-спек-трометрическому анализу. [14]
Форма амплитудного распределения зависит от расстояния источник - детектор. С изменением расстояния меняется телесный угол и соответственно средняя длина пробега у-квантов в детекторе. От последней зависит вероятность событий фотопоглощения и многократного рассеяния, а следовательно, и эффективность детектора. По этой причине спектры анализируемых проб и эталонов измеряют в одинаковых геометрических условиях. Возможно использование и разной геометрии, но тогда требуется предварительная калибровка используемых позиций для приведения к одинаковым условиям измерения. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5