Рассеивание - погрешность
Cтраница 3
Широкие экспериментальные исследования, проведенные нами в производственных условиях, дают возможность утверждать, что величина поля рассеивания погрешностей формы, особенно при точной обработке деталей, составляет значительную часть суммарной погрешности обработки, а в некоторых случаях и превышает ее. [31]
 |
Гистограммы и полигоны распределения производственных. [32] |
В ряде случаев ( рис. 1.26 6, s) некоторое несоответствие практической кривой нормальному закону распределения обусловлено значительно меньшим рассеиванием погрешностей параметров схемных элементов по сравнению с требованиями ТУ. [33]
Таким образом, наблюдаемые поля рассеивания х № t представляют собой сумму двух полей: поля рассеивания истинных размеров Xi и поля рассеивания погрешностей измерений A. Эти поля можно считать взаимно независимыми, если среди факторов. [34]
Предполагается, что теоретическая кривая нормального распределения, соответствующая рассеиванию размеров деталей, имеет следующие параметры - хр; ур и ар, а кривая распределения, соответствующая рассеиванию погрешностей формы, - хф Уф и зф. [35]
 |
Метрологические характеристики средств измерений. а - цена деления, диапазон измерений и длина ( интервал деления шкалы, б - передаточное отношение прибора. [36] |
Главным метрологическим ( эксплуатационным) показателем прибора, как и любого средства измерений, является его точность, количественно характеризуемая погрешностью А. Рассеивание погрешности измерения зависит от цены деления функциональных шкал измерительных приборов, поделенных на аналоговые и цифровые. [37]
Главным метрологическим ( эксплуатационным) показателем прибора, как и любого средства измерений, является его точность, количественно характеризуемая погрешностью А. Рассеивание погрешности измерения зависит от цепи деления функциональных шкал измерительных приборов, поделенных на аналоговые и цифровые. [38]
Величина поля рассеивания погрешностей формы зависит в основном от жесткости станка. [39]
Собственно случайные погрешности обработки, как правило, подчиняются закону нормального распределения. Однако, если рассеивание погрешностей не подчиняется закону Гаусса, это не может отразиться ни на методике вывода основных точностных зависимостей, ни на структуре погрешности поднала-дочных систем. [40]
 |
К подналадке по одной детали. [41] |
Собственно случайные погрешности обработки, как правило, подчиняются закону нормального распределения. Однако, если рассеивание погрешностей не подчиняется закону Гаусса, это не может отразиться ни на методике вывода основных точностных зависимостей, ни на структуре погрешности подналадочных систем. [42]
Рассеивание размеров обработанных деталей вызывается в первую очередь неизбежными в производственных условиях колебаниями факторов, участвующих в процессе обработки, например, при литье - колебаниями температуры заливки, а следовательно, и колебаниями величины усадки металла, при листовой штамповке - колебаниями толщины материала, при обработке резанием - колебаниями механических свойств материала и припусков, обусловливающими изменения деформаций в системе станок - инструмент. Большинство из причин, вызывающих рассеивание погрешностей, носит случайный характер. Из причин неслучайного характера наиболее общей является из-рог ( штампов. [43]
В одних случаях экономически целесообразным решением может оказаться технология, рассчитанная на практическое отсутствие за время изготовления партии износа и затупления инструмента. При этом допуск на изготовление может приниматься равным или несколько большим суммы величин практически предельного поля рассеивания погрешностей изготовления и зоны погрешностей настройки. Расположение зоны погрешностей настройки может быть в центре поля допуска. [44]
Обычно в рабочих чертежах деталей проставляются только допуски, поэтому полученные выше формулы математических ожиданий и дисперсий неудобны для практических расчетов точности обработки. Рассмотрим теперь определение общеизвестных характеристик производственных погрешностей: координат середин полей рассеивания и практически предельных полей рассеивания погрешностей технологических процессов со многими входными и выходными переменными. [45]
Страницы: 1 2 3 4