Cтраница 1
Резерфордовское рассеяние соответствует очень малым углам рассеяния даже для кулоновского поля точечного заряда; для быстрых частиц, кроме того, значение 0макс мало по сравнению с единицей. Поэтому вероятность рассеяния на малые углы очень велика. Частица, проходящая слой вещества конечной толщины, испытывает многократные отклонения на малый угол и выходит из слоя под некоторым малым углом рассеяния, представляющим собой статистическую суперпозицию большого числа отклонений. Лишь весьма редко частица будет отклоняться при соударении на большой угол; так как такие события редки, частица испытывает лишь одно подобное соударение. Это обстоятельство позволяет разделить всю область углов на две части: область сравнительно больших углов, соответствующую однократно рассеянным частицам, и область очень малых углов, соответствующую частицам, подвергшимся многократному, или сложному, рассеянию. Полное угловое распределение может быть приближенно определено независимым рассмотрением обеих указанных областей. Промежуточная область так называемого множественного рассеяния дала бы плавный переход от малых углов к большим. [1]
Это рассеяние аналогично резерфордовскому рассеянию а-частиц ядрами: дырка ( или электрон) движется в кулоновском поле иона по гиперболе, во внешнем ( соответственно, внутреннем) фокусе которой находится ион. [2]
Почему при резерфордовском рассеянии а-частиц в тонкой золотой фольге пренебрегают влиянием электронов атома на сс-частицу. [3]
Замедление атомов отдачи происходит по механизму кулонов-ского отталкивания, идет так называемое резерфордовское рассеяние, которое осуществляется без образования химических соединений. Затем начинаются столкновения по типу жестких сфер. [4]
Кинетическое уравнение с кулоновским интегралом столкновений имеет смысл до тех пор, пока резерфордовское рассеяние является главной причиной изменения импульса и энергии электрона. [5]
Отметим, что при R 0 второе слагаемое в ( 30) переходит в сечение резерфордовского рассеяния точечным ядром. [6]
Что касается упругого рассеяния тяжелых частиц на углы - 1, то оно сводится к резерфордовскому рассеянию на ядре атома. [7]
Что касается упругого рассеяния тяжелых частиц на углы ft - 1, то оно сводится к резерфордовскому рассеянию на ядре атома. Особого рассмотрения требует неупругое рассеяние с ионизацией атома при большой передаче импульса. [8]
Здесь ijjd есть волновая функция движения дейтрона как целого в поле ядра, выбранная в виде, применяющемся в задаче о резерфордовском рассеянии; именно, это есть функция, складывающаяся на бесконечности из падающей плоской и рассеянной расходящейся сферической волны. Мы будем предполагать эту функцию нормированной так, чтобы падающая плоская волна была нормирована на единицу плотности потока. [9]
Общий знак амплитуды можно проверить и по нерелятивистскому пределу: мы увидим далее ( см. § 81), что в этом пределе второй член в (73.15) стремится к нулю, а первый - к борновской амплитуде резерфордовского рассеяния. [10]
Общий знак амплитуды можно проверить и по нерелятивистскому пределу: мы увидим далее ( см. § 81), что в этом пределе второй член в ( 73 15) стремится к нулю, а первый - к борновской амплитуде резерфордовского рассеяния. [11]
Все три метода - оже-спектроскопия, электронная спектроскопия для химического анализа и масс-спектроскопия вторичных ионов - обычно требуют создания высокого вакуума, а проведение анализа распределения элементов сопровождается разрушением образца. Элементный анализ, основанный на обратном резерфордовском рассеянии [56], относится к неразрушающим методам, однако для получения зондирующего луча необходимо использовать ускоритель частиц. [12]
Эти трудности исчезают при рассеянии ионов высоких энергий ( больше 100кэВ), когда доминирующим взаимодействием между легкими ионами и атомами твердого тела становится кулоновское отталкивание между ядрами. Столкновения при таких энергиях подчиняются классическому закону резерфордовского рассеяния. Изучая влияние геометрии затенения на выход рассеянных ионов ( потеря кинетической энергии которых зависит от масс атомов, входящих в состав твердого тела), можно определить местоположение поверхностных атомов и расстояния от них до ближайших соседей. [13]
Наша цель - показать, как метод функционального интегрирования применяется в вычислениях процессов рассеяния. В частности, в § 5.3 мы рассмотрим резерфордовское рассеяние. Поскольку выражение для амплитуды перехода точно вычислить невозможно, мы прибегнем, как обычно, к теории возмущений. [14]
Контроль воспроизводимости слоев по толщине осуществляют с помощью интерферометрических и эллипсометрических измерений. Быстрое измерение толщины отдельных слоен возможно с помощью резерфордовского рассеяния, а также путем измерения: наведенной активности слоев, подвергнутых активации нейтронами. [15]