Cтраница 1
Интерференционное рассеяние объясняется с помощью теории интерференции рентгеновских лучей, рассеянных идеальным кристаллом. Согласно этой теории при попадании рентгеновских лучей с длиной полны А под уголом 0 на поверхность кристалла с межплоскостными расстояниями d отражение происходит Лишь тогда, когда разность в ходе лучей, отраженных от двух соседних плоскостей, равна целому кратному длины полны. [1]
Интерференционное рассеяние объясняется с помощью теории интерференции рентгеновских лучей, рассеянных идеальным кристаллом. [2]
Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными ( не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения, диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные типы рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [3]
Методом интерференционного рассеяния определяют концентрацию кристалликов в дисперсных системах и распределение их по размерам. При крупнозернистом строении ( 1 мкм) структуры ( например, крупнозернистые порошки) на рентгенограмме наблюдаются пятна, по размеру которых судят о среднем размере кристалликов, а по их числу определяют концентрацию кристалликов в единице объема. Если кристаллики имеют размеры от 1 до 0 1 мкм, то для определения размера частиц используют явление уменьшения интенсивности отдельных линий на рентгенограмме. [4]
Метод интерференционного рассеяния позволяет оценить и форму кристаллов. [5]
Первое ела - гаемое в (39.27) определяет интерференционное рассеяние. [6]
Первое ела - J гаемое в (39.27) определяет интерференционное рассеяние. [7]
Если решетка такова, что uAtj ms, то интерференционное рассеяние начинается при скорости нейтрона, равной скорости звука. В этом случае вначале возможно только значение г 0, отвечающее точному выполнению закона сохранения импульса в решетке. [8]
Если решетка такова, что irAtj, ms, то интерференционное рассеяние начинается при скорости нейтрона, равной скорости звука. В этом случае вначале возможно только значение т О, отвечающее точному выполнению закона сохранения импульса в решетке. [9]
Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными ( не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения, диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные типы рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [10]
После работ Дебая и Гинье стало ясно, что природа нового явления по существу аналогична диффракции видимого света малыми экранами и отверстиями. Подобная терминология существенна ввиду того, что под малыми углами можно наблюдать как диффракционное, так и интерференционное рассеяние. [11]
Третья причина связана с самой природой просвечиваемого образца и во многих случаях представляет самостоятельный интерес. Здесь следует отметить, что интерференционное рассеяние под малыми углами наиболее типично при упорядоченном и компактном расположении частиц. Оно довольно существенно при рассеянии рентгеновских лучей строго монодисперсными системами. Реальные же высокодисперсные системы являются, как правило, полидисперсными и некомпактными системами. Оба эти обстоятельства делают эффект интерференционного рассеяния под малыми углами для таких систем практически совершенно ненаблюдаемым. Некомпактность определяет неупорядоченность расположения частиц. Влияние же полидисперсности станет ясным, если вспомнить опыты по рассеянию рентгеновских лучей смесью двух и более жидкостей, молекулы которых значительно отличаются по своим размерам. [12]
Как указано выше, необходимо знать вид функции [4, 1] для нахождения интегральной ширины линии и определения размеров некоторой средней частицы, характеризующей степень дисперсности порошка. Тем более важно знать [4, 1] возможно более точно с учетом всех поправок на посторонние для целей исследования факторы, когда экспериментальная кривая [4, 1] используется для нахождения функции распределения частиц по размерам W ( R), где R - параметр размера. Эта задача стоит перед рентгенографией давно, но успешного разрешения в области интерференционного рассеяния она еще не получила. [13]
Рентгеновские методы исследования используются не только для качественного и количественного анализа материалов, определения строения кристаллических решеток, но и выполнения дисперсионного анализа твердых фаз. Методы рентгенографического анализа дисперсности веществ и материалов основаны на использовании явления дифракционного расширения интерференционных максимумов, получающихся при рассеянии рентгеновских лучей частицами ультрамикрогетерогенных систем. В зависимости от структуры просвечиваемых частиц ( от степени упорядоченности) различают два типа рассеяния рентгеновских лучей: интерференционное рассеяние и дифракционное рассеяние. [14]
Рентгеновские методы исследования позволяют проводить не только качественный и количественный анализ материалов, определять строение кристаллических решеток, но и выполнять дисперсионный анализ твердых фаз. Методы рентгенографического анализа дисперсности различных веществ и материалов основаны на использовании явления дифракционного расширения интерференционных максимумов, получающихся при рассеянии рентгеновских лучей частицами ультрамикрогетерогенных систем. В зависимости от структуры просвечиваемых частиц ( ее степени упорядоченности) различают два типа рассеяния рентгеновских лучей: интерференционное рассеяние и дифракционное рассеяние. [15]