Аномальное рассеяние

Cтраница 3

Упрощенная модель рассеяния на двух атомах. а - рассеивает нормально. б - аномально. [31]

Теперь можно показать, что в общем случае аномального рассеяния для структур, не имеющих центра симметрии, не выполняется закон Фриделя. [32]

Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину волны X) так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. с. Тогда амплитуды отражений F ( hkl) и F ( hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [33]

Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину К), так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. гл. Тогда амплитуды отражений F ( fikl) и F ( hkT) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [34]

Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину К), так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. гл. Тогда амплитуды отражений F ( hkl) и F ( hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [35]

Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину волны К) так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. с. Тогда амплитуды отражений F ( hkl) и F ( hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [36]

Зависимость Д / / g / c ( кривая / [ IMAGE ] Изменение фазы рассеяния и & f / gx ( кривая 2 от частоты падаю - рентгеновских лучей на атоме в за-щего излучения со в форме отношения висимости от ш / со. [37]

Поскольку при рассеянии в области поглощения ( при аномальном рассеянии) изменяется фаза рассеяния на атоме по сравнению с нормальным рассеянием, возникает новая возможность при изучении дифракции рентгеновских лучей. [38]

Смолин [4] определил структуру тетрагерманата бария BaGe409, используя аномальное рассеяние рентгеновских лучей. [39]

Кремнекислородный радикал [ Si2Oe ( OH2 ]. [40]

Использование точных методов оценки интенсивно-стей позволяет весьма эффективно использовать аномальное рассеяние рентгеновских лучей при определении структур. [41]

Распределение точечных групп симметрии по классам дифракционной симметрии. [42]

Само собой разумеется, что если кристалл дает заметный эффект аномального рассеяния, проблема определения точечной группы решается однозначно без пр. [43]

Таким образом, изложенная выше простая модель поверхности позволяет объяснить эффект аномального рассеяния рентгеновского излучения. [44]

Практически единственным методом, позволяющим определять абсолютную конфигурацию, является метод аномального рассеяния рентгеновских лучей. Благодаря автоматизации эксперимента существенно расширяется база структурных данных. [45]

Страницы: 1 2 3 4