Cтраница 1
Малоугловое рассеяние может быть двух типов. Обычно такие непрерывные кривые интенсивности получаются в результате дифракции на беспорядочной системе больших частиц. В другом случае на рентгенограммах видны максимумы, соответствующие большим периодам. Наличие отдельных рефлексов на малоугловой рентгенограмме характеризует уже порядок в расположении больших частиц. На малоугловых рентгенограммах полимеров наблюдаются оба типа рассеяния: непрерывное распределение интенсивности и отдельные рефлексы. [1]
Малоугловое рассеяние может быть двух типов. Обычно такие непрерывны кривые интенсивности получаются в результате дифракции на бес порядочной системе больших частиц. В другом случае на ректге лоградшах вкдны макпшумы, соответствующие большим периодам. [2]
Малоугловое рассеяние может быть двух типов. Обычно такие непрерывные кривые интенсивности получаются в результате дифракции на беспорядочной системе больших Частиц. В другом случае на рентгенограммах вкдньг максимумы, соответствующие большим периодам. Наличие отдельных рефлексов на ма оугловой рентгенограмме характеризует уже порядок в расположении больших таспщ. На малоугловых рентгенограммах полимеров наблюдаются оба типа рассеяния: непрерывное распределение интенсивности я отдельные рефлекш. [3]
Малоугловое рассеяние может быть двух типов. Обычно такие непрерывна кривые интенсивности получаются в результате дифракции на бе порядочной системе больших частиц. [4]
Малоугловое рассеяние позволяет изучать дисперсные системы, размеры частиц в которых значительно больше межатомных расстояний и составляют от 1 до 103 нм. Метод позволяет определять дисперсные структуры вне зависимости от природы составляющего их вещества, поскольку неоднородности атомного масштаба в малоугловой области не сказываются. [5]
![]() |
Кривые интенсивности рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами для исходных ( сплошные кривые и пористых ( пунктирные кривые стекол. [6] |
Впервые малоугловое рассеяние, свободное от паразитных эффектов, было получено два года тому назад для натриевоборосиликатных стекол в нашей лаборатории [ 27i81J - Выяснилось, что основными причинами неудач предыдущих попыток являлись предельно малые разности между электронными плотностями областей неоднородности в сочетании с незначительными размерами последних. В натриевоборосиликатных стеклах области неоднородности оказались достаточно большими для обнаружения с помощью новой светосильной установки. Этот результат, убедительность которого подчеркивается близостью дифракционных картин исходных и пористых стекол ( рис. 3), несовместим с гипотезой беспорядочной сетки и является прямым доказательством химически неоднородного строения натриевоборосиликатных стекол, вопреки упомянутым выше утверждениям наших оппонентов на II совещании. [7]
Малоугловое рассеяние поляризованного света является эффективным для изучения надмолекулярного порядка как в твердых, так и в жидких полимерных системах. [8]
Малоугловое рассеяние рентгеновского излучения в интервале 29 0 5 - 8 комплексами ЬШ-С4Н9ОВ ( ОС3Н7) 3 ], Li [ t - С4Н9ОВ ( ОС7Н15) 3 ], 1л С4Н9ОВ ( ОС ] 3Г127) 3 ] в твердом ( рис. 1) и гелеобразном ( рис. 2) состоянии обнаруживает существование интерференционных максимумов. [9]
Малоугловое рассеяние рентгеновского излучения в интервале 29 0 5 - 8 комплексами LiU - C4H9OB ( OC3H) 3 ], Li [ t - C4H9OB ( OG7H13) 3 ], LiR - C4H9OB ( OCJ3H27) 3 ] в твердом ( рис. 1) и гелеобразном ( рис. 2) состоянии обнаруживает существование интерференционных максимумов. [10]
Метод малоуглового рассеяния используют для измерения величины частиц, имеющих размеры от 1 до 100 нм. Обычно-этот метод применяется при рассеянии излучения в области менее 5 от направления исходного луча. При использовании метода необходимо исключить влияние отражения от поверхности пор носителя на результаты измерения. В работе [4.7] эта проблема решена путем пропитки катализатора жидкостью с той же электронной плотностью, что и у носителя. Как следствие, частицы металла остаются главными центрами рассеяния излучения. [11]
Методом малоуглового рассеяния в нефтяных системах были обнаружены неоднородности на масштабе нескольких нм. По всей видимости, они представляют собой ядра ССЕ, преимущественно состоящие из ас-фальтеновых молекул. Оценка размеров асфальтеновых ассоциатов была произведена во множестве работ. [12]
Интенсивность малоуглового рассеяния возрастает с увеличением различия между электронными плотностями различных типов областей, с которыми связана гетерогенность, например, в набухших полимерах, где интенсивность рассеяния рентгеновских лучей зависит от разности электронных плотностей частиц и растворителя. [13]
![]() |
Относительное уменьшение межплоскостных расстояний ( ДШ в деалюминированных образцах морденита. [14] |
Кривые малоуглового рассеяния в случае цеолитов приходится обрывать на углах ф40, так как на данных углах появляются первые дифракционные максимумы. Вследствие этого область рассеяния пор с г 7 А оказывается вне разрешения. [15]