Вторичное рассеяние

Cтраница 1

К определению погрешности измерений угловой зависимости светорассеяния. [1]

Вторичное рассеяние возникает при исследовании объектов с очень большой мутностью. Оно не наблюдается в растворах при достаточно большом разбавлении. Не имея возможности останавливаться здесь на этом явлении, мы отсылаем читателя к работам [96, 97], в которых влияние вторичного рассеяния рассмотрено подробно. [2]

Вследствие вторичного рассеяния в этом очень мутном растворе кривая приобретает большой наклон. [3]

После вторичного рассеяния преобладание первоначального направления менее заметно. Наконец, после ряда N столкновений исчезает всякая корреляция между вероятностью направления скорости и исходной скоростью электрона. Путь и длительность пробега электрона состоят из суммы путей и длительностей всех N столкновений. [4]

Изменение рассеивающего объема при различных угловых положениях приемника рассеянного 90 света. [5]

Погрешности от вторичного рассеяния возникают в объектах с очень большой мутностью. Они легко устраняются подбором кювет соответствующей толщины или разбавлением дисперсной системы. [6]

Индуктивное сопротивление вторичного рассеяния трансформатора х2 в некоторой степени компенсирует емкостное сопротивление нагрузки хл, вследствие чего напряжение U2 может быть больше Ег. [7]

Таким образом, в этом случае вторичное рассеяние равно нулю. Это объясняется тем, что линии первичных и вторичных токов имеют одинаковую конфигурацию и согласно нашим представлениям первичные и вторичные токи распределены равномерно по зазору. При а / т; со вследствие поперечного краевого эффекта линии вторичного тока искажаются и появляется вторичное рассеяние. [8]

Пути магнитных потоков рассеяния. [9]

Как и поток первичного рассеяния, поток вторичного рассеяния можно считать прямо пропорциональным току, его возбуждающему. [10]

Некоторые исследователи [7] предлагают определять влажность по вторичному рассеянию р-излучения; при этом на результаты слабо влияют флуктуации зольности и содержание Fe в золе. [11]

Поточный ультрамикроскоп Дерягина н Власеико71. [12]

Поскольку в этом случае погрешности, связанные с вторичным рассеянием света частицами и потерями частиц в узких трубках н иа стенках кюветки, исключены авторы полагают, что этот ме-I тод счета точнее других. [13]

В этом случае частицы могут попасть в детектор после вторичного рассеяния. В итоге теоретическая кривая регрессии отклонится от экспоненциальной ( приподнят хвост), и экспериментатор получит заниженную величину эффективного сечения процесса. [14]

Несмотря на это, Цимм считает, что имеется влияние вторичного рассеяния на результаты измерений углового изменения интенсивности и их согласие с теорией Орстейна и Зернике будет не более чем качественное. [15]

Страницы: 1 2 3 4