Строгое рассмотрение

Cтраница 2

К расчету наклонного двойного слоя Штриховые линии - траектории ионов. [16]

Строгое рассмотрение указанной проблемы требует, как мы уже говорили, решения кинетического уравнения для частиц всех сортов, участвующих в создании слоя. Однако, как было показано Свифтом, в том случае, когда электрическое поле мало меняется на расстояниях порядка ларморовского радиуса ионов, задача значительно упрощается. При этом учет токов поляризации, возникающих в результате инерционного дрейфа ионов в неоднородном электрическом поле, сводится к введению в уравнение поля (3.1) или (3.33) отличной от единицы диэлектрической проницаемости плазмы 6 с2 / ид, где) - В2 / 4ттр - скорость альвеновских волн. [17]

Строгое рассмотрение электронного строения и свойств системы даны в других разделах книги ( IV. Здесь можно привести некоторые дополнительные наглядные соображения, необходимые для понимания сущности явления. [18]

Схематическое изображение потенциальной поверхности колебательного движения протона и колебаний О-О в водородной связи. [19]

Строгое рассмотрение взаимодействия колебаний О-О и протона требует решения задачи в двухмерном приближении. Оказалось, что пока на потенциальной поверхности имеется два минимума, в системе не должно произойти никаких изменений, которые бы могли существенно повлиять на поляризуемость. [20]

Строгое рассмотрение переходных электромагнитных процессов в двигателях приводит, как правило, к сложным нелинейным системам дифференциальных уравнений, качественное исследование и приближенное решение которых связано со значительными трудностями. Указанное существенно ограничивало использование получаемых результатов в практике инженерных расчетов машинных агрегатов. [21]

Строгое рассмотрение зависимости коэффициента активности от концентрации требует учета влияния природы и концентрации электролита на диэлектрическую проницаемость раствора. Если такой учет произвести, то параметры А та В станут функцией концентрации и природы растворенного вещества. [22]

Номограмма зависимости Fp от hlw. [23]

Строгое рассмотрение течения ньютоновских жидкостей в каналах прямоугольного сечения дано в работах 1 - 36 - 37; в работе 38 эти результаты были распространены на течение аномально-вязких жидкостей. [24]

Самое строгое рассмотрение должно учитывать существование агрегатов с монотонно увеличивающимся числом молекул. Это последовательное увеличение размеров агрегатов приводит сначала к образованию критических капелек, а затем - к стабильным каплям. Можно достаточно надежно оценить скорость испарения из этих агрегатов и скорость конденсации на их поверхности. Разность этих скоростей дает скорость образования агрегатов разных размеров и, следовательно, скорость появления стабильных зародышей. Теоретическое выражение для скорости зародышеобразования Vg можно получить путем трудоемких расчетов и при использовании различного рода приближений, применимость которых трудно обосновать. [25]

Орбитальное взаимодействие между системой с закрытой оболочкой и радикалом.| Орбитальное взаимодействие между системой с закрытой оболочкой и возбужденной системой с открытой оболочкой. [26]

Однако строгое рассмотрение фотоиндуциро-ванных реакций в настоящее время представляется достаточно сложной задачей, поскольку не всегда легко найти ядерные конфигурации и электронные структуры фотовозбужденных молекул, а МО волновые функции возбужденного синглетного состояния нельзя получить также просто, как МО основного и возбужденного три-плетного состояний. Кроме того, в этом случае перенос заряда между ОЭМО также может играть важную роль. [27]

Хотя вполне строгое рассмотрение приведенных схем в настоящее время не представляется возможным, ориентировочные расчеты, позволяющие оценить долю кислоты или основания, участвующих в реакциях ( 2) и ( 5), ( 3) - ( 4), ( 6) - ( 7), могут быть выполнены. [28]

Поскольку строгое рассмотрение вида зависимости допустимой нагрузки от параметров о4 и Г довольно сложно, выясним эту зависимость на конкретном примере. Пусть на некоторой колонне решается задача очистки вещества от менее сорбируемой примеси. [29]

Для строгого рассмотрения нужно задать профиль нарезки, однако существенные черты дифракционной картины зависят не от профиля, а от глубины и шага резьбы. [30]

Страницы: 1 2 3 4