Cтраница 2
Исследован также2 ряд ранее неизученных структур неорганических кристаллогидратов ( СоС12 - 2Н2О, ВаС12 - Н2О, ВаВг2 - Н2О и др.), приэтомбыл развит и использован метод прямого структурного анализа поэлектронограммам с использованием рядов Фурье. Этот метод, примененный ранее в рентгенографии, позволяет по значениям интенсивностей линий на рентгенограммах строить кривую распределения плотности электронов в элементарной ячейке кристаллической решетки и по картине электронной плотности определить положения отдельных атомов, так как они соответствуют сгущениям электронов. Электроногра-фически получают подобным образом картину распределения потенциала внутри элементарной ячейки кристалла. Этот метод был использован для структурного анализа кристаллического парафина и определения положения атомов водорода в кристаллической решетке. [16]
Аналогично можно запрограммировать и другие формулы, в том числе и зависимость, предложенную Франценом и Шуи ( 1966), и преобразовать результаты оптических измерений в значения интенсивности. После этого результаты, считанные с фотопластин, оказываются представленными в той же форме, что и данные электрической регистрации, которые непосредственно содержат значения интенсивности линий масс-спектра. Поэтому дальнейшие расчеты могут быть произведены по сходной методике. При этом необходимо использовать ряд поправочных коэффициентов. Основной среди них - распространенность изотопов. [17]
В дополнение к статистической обработке для интерпретации результатов полезно применять графический метод. Селидометр был разработан для упрощения пересчета относительных результатов, полученных концентраций по методу Черчилля, путем деления на кажущуюся интенсивность линии элемента основы. На нем в логарифмической шкале нанесены значения интенсивностей линий, взятые с характеристической кривой, а по оси X - - реальные экспозиции пластины. Результирующая кривая представляет собой серию линий, расположенных под углом 45, каждая из которых соответствует результатам для одного из изотопов. Горизонтальное положение линий изотопов одного элемента связано с изотопными отношениями, что можно проверить при помощи наложения логарифмической шкалы. [18]
Наиболее удовлетворительный критерий следующий: элемент присутствует в пробе, если сигнал элемента превышает сигнал фона по крайней мере на три величины стандартной ошибки измерения фона. Так, если среднее значение фона равно 100 имп / сек, стандартная ошибка счета 10 имп / сек. На основании сформулированного критерия можно ожидать, что примерно 99 % отклонений полученных результатов измерения фона за тот же промежуток времени будут находиться в пределах 70 и 130 имп / сек. Если наблюдаемая скорость счета больше 130, существует большая вероятность того, что в пробе присутствует определяемый элемент. Можно выбрать менее жесткий критерий, но при этом возрастает неопределенность ( см. гл. В общем случае строят градуировочные графики по значениям интенсивности линий с учетом фона 7Уд ф - Нф, где Жл ф - общее число импульсов, соответствующее интенсивностям линии и фона, N - число импульсов, соответствующее фону, измеренное за тот же отрезок времени. В таком случае график зависимости интенсивности от концентрации не проходит через начало координат, но пересекает ось ординат ( ось интенсивности) на уровне, соответствующем фону. Не всегда целесообразно вводить поправку на фон, в связи с тем что при этом вводится дополнительная статистическая ошибка. [19]