Cтраница 1
Структура гибридной интегральной микросхемы, наготовленной по совмещенной технологии. [1] |
Значения интенсивности отказов для гибридных и тонкопленочных ИС обычно ниже, чем для полупроводниковых из-за наличия большого числа соединений между отдельными кристаллами, повреждения которых могут вызвать отказ схемы. [2]
Значения интенсивности отказов для гибридных и тонкопленочных ИМС обычно ниже, чем для полупроводниковых. [3]
Значения интенсивностей отказов для различных аппаратов, входящих в схемы устройств автоматики и радиоэлектроники специального назначения, приведены в табл. ТЫ. Для устройств релейной защиты и автоматики условия эксплуатации обычно соответствуют наиболее благоприятным наземным лабораторным условиям. [4]
Значения интенсивности отказов, представленные в табл. 4.1, являются средними для химической промышленности. В то же время интенсивность отказов ( или наработка на отказ) любого узла либо детали зависит от условий эксплуатации. Например, в производстве полимеров наработка на отказ гораздо меньше, чем в других производствах, так как отказы наступают не из-за повреждения аппарата, а вследствие забивки его термополимером. При этом отказом считается не только физический износ аппарата, но и отклонение показателей его работы ( например, производительности) за пределы допустимых значений. Поэтому при оценке надежности необходима информация об интенсивности отказов узлов и деталей в сравнимых условиях. [5]
Определение предела гарантированной работы.| Расчет интенсивности отказов системы. [6] |
Значения интенсивности отказов отдельных элементов санитар но - ехнических систем приведены в табл. 2.5. В результате анализ изменений вероятностных характеристик системы можно получить представление об условиях ее эксплуатации с заданной степенью надежности в различные сроки службы. [7]
Зависимость интенсивности отказов элементов от времени. [8] |
Значения интенсивностей отказов элементов радиоаппаратуры определены экспериментально на основании анализа результатов эксплуатации большого количества изделий и помещены в справочниках по надежности. [9]
Пусть значение интенсивности отказов, определяющее среднее число отказов в единицу времени, равно для тиристоров Хт 0 003 1 / год, а для предохранителей а 0 011 1 / год. [10]
Кео - значение интенсивности отказов, полученное в нормальных условиях; %, д2 ап - поправочные коэффициенты, учитывающие зависимость интенсивности отказов от электрической нагрузки, от величины номинала элемента и других факторов режима использования и условий окружающей среды. [11]
Кео - значение интенсивности отказов, полученное в нормальных условиях; alt а2, а3, at - поправочные коэффициенты, соответственно учитывающие зависимость интенсивности отказов от величины электрической нагрузки; аэ - поправочный коэффициент, учитывающий проч-ие факторы режима использования и условий окружающей среды. [12]
Зависимость интенсивности отказов аппаратуры от условий эксплуатации. [13] |
Так как значения интенсивности отказов лежат в определенном диапазоне, то надежность элементов рассчитывают для минимальных и максимальных значений коэффициентов надежности, которые приведены в табл. 3.1 для некоторых типов элементов. При вычислении коэффициентов надежности за основной элемент расчета принято сопротивление. [14]
Значения Ко некоторых элементов. [15] |