Расчет - коэффициент - отражение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Жизнь, конечно, не удалась, а в остальном все нормально. Законы Мерфи (еще...)

Расчет - коэффициент - отражение

Cтраница 1


Расчеты коэффициентов отражения для двух смесей окрашенного и белого пигментов, приведенные в двух последних столбцах, показывают, что величина рр играет относительно небольшую роль.  [1]

Результаты расчета коэффициента отражения основной волны от согласованной нагрузки в диапазоне частот, соответствующем одноволновому режиму полого волновода, при / 3а и различных значениях поверхностного сопротивления пленки приведены на рис. 3.38. Из рисунков видно, что качество согласования волновода с резистивной пленкой зависит от частоты и в значительной мере определяется поверхностным сопротивлением пленки. В табл. 3.3 приведены результаты сравнения вычисленных значений коэффициента отражения с экспериментально измеренными.  [2]

3 Зависимость а от р, характеризующая отклонение центрального луча ( /, 2, соответствующего максимуму амплитуды сигнала, от акустической оси (. для ПЭП с плексигласовой призмой, излучающего в сталь. [3]

Снеллиуса и полученные выражения для расчета коэффициентов отражения и прохождения справедливы в случае плоской волны. У реальных преобразователей, как правило, пучок расходящийся, и у каждого из лучей пучка свой коэффициент прохождения.  [4]

Тем не менее использо-вание в расчетах коэффициента отражения по напряжению предпочтительнее, так как в диапазоне сверхвысоких частот измерение напряжений осуществляется, проще и надежнее, чем измерение токов.  [5]

В работе [282] предложен некоторый способ расчета коэффициента отражения от диэлектрического клина, основанный на численном решении дифференциальных уравнений, пригодных в частном случае, когда в областях с ех и е2 может распространяться лишь одна / Г10 - волна.  [6]

7 Схема падения плоскополяризованной волны на плоский слой с металлической подложкой. [7]

На рис. 2.7 показана схема расположения слоя на металлической подложке с дефектом в виде расслоения. Выражение (2.13) может быть использовано для расчета коэффициента отражения для двухслойного покрытия, находящегося на металлической подложке. В такой конструкции основным дефектом являются дефекты клеевых прослоек. Их выявление рассмотрено в разделе 3.4 при изложении методики контроля трехслойных конструкций.  [8]

Известны формулы Френеля, позволяющие вычислять амплитуды отраженных и прошедших волн для плоского однородного препятствия в воде или в воздухе. Однако в твердых телах, например в пластинах, стержнях и вообще в средах, где может существовать несколько типов волн, расчет коэффициентов отражения является громоздким. Ниже излагается теория, предложенная в [124], обобщающая формулы Френеля на среды с произвольным числом волн и позволяющая представить коэффициенты отражения в компактном виде, удобном для расчетов на ЭЦВМ. В приводимых далее иллюстративных примерах анализируются потоки энергии в различных структурах.  [9]

Помимо основной программы она включает три подпрограммы и семь подпрограмм-функций. С помощью 1 - й подпрограммы осуществляется расчет электрической цепи, изображенной на рис. 9.7 а; 2 - й - цепей на рис. 9.7 6, в; 3 - й - цепи а рис. 9.7 г. Конечным звеном этих подпрограмм является расчет коэффициента отражения rP jQ оо входа согласующих цепей. Вычисленные значения Р, Q и / Срну возвращаются в основную программу.  [10]

Помимо основной программы она включает две подпрограммы и две подпрограммы-функции. С помощью 1 - й подпрограммы осуществляется расчет электрической цепи на рис. 9.7 а; 2 - й - цепей на рис. 9.7 6, в. Конечным звеном обеих подпрограмм является расчет коэффициента отражения TP jQ по входу согласующих цепей ( коэффициенты TI и Г3) исходя из структуры и значений выходного и входного сопротивлений транзистора. Вычисленные значения Р и Q возвращаются в основную программу.  [11]

Дисковый прерыватель 16, приводимый во вращение от синхронного электродвигателя, обеспечивает поочередное пропускание светового потока от эталона ( опорный канал) и образца ( измерительный канал), а также перекрывание их ( темно-вой канал) при каждом из светофильтров. Фотоэлектронный умножитель преобразует световые потоки в электрические импульсы, которые после усиления операционным усилителем поступают в измерительный блок. В измерительном блоке выделяются и сглаживаются сигналы постоянного тока, полученные на опорном, измерительном и тем-новом каналах. Сглаженные сигналы последовательно поступают в цифровой вольтметр-преобразователь, аналог-код, а затем в микроЭВМ, где на основе заложенных в нее программ осуществляется расчет коэффициентов отражения ( или пропускания) и характеристик цвета.  [12]

Исследованы особенности распространения пространственных акустических возмущений в двумерном потоке газа в осесимметричных каналах переменной площади поперечного сечения при частотах, близких к частоте отсечки. Рассмотрен случай медленного изменения площади поперечного сечения канала по длине. Исследованы особенности решения, найденного ранее в [1] и представляющего аналог ВКБ-приближения. Эти особенности связаны с существованием точек поворота в теории ВКБ-приближения. С помощью аппарата зтой теории [2] разработана методика расчета коэффициента отражения акустических возмущений, причем оказывается, что отражение существенно только на тех участках канала, где частота близка к частоте отсечки.  [13]

14 Случай многократного отражения в тонкой пленке на пластинке НПВО. На схеме представлены показатели преломления и углы падения и преломления для трех сред. [14]

Теоретические аспекты НПВО-спектроскопии на прозрачных проводящих пленочных электродах разработаны Сринивасаном и Куваной [137] в связи с различными экспериментами в точно контролируемых условиях. Луч света, падающий на проводящую пленку через прозрачный стеклянный субстрат, претерпевает многократное отражение, вызывающее интерференционные эффекты. Следовательно, интенсивность света, выходящего из стеклянной пластинки, зависит от длины волны. Метод Сринивасана и Куваны основывался в первую очередь на расчете френелевских коэффициентов отражения ( см. разд. II, Б, 4) от поверхности раздела двух сред, из которых одна или обе поглощают излучение. Эти величины затем подставлялись в общую формулу Мюрманна и Форстерлинга, модифицированную таким образом, чтобы быть пригодной для всех ( а не только нормальных) углов падения. Разработан также приближенный метод расчета показателя затухания в тонкой пленке по одному лишь измерению в проходящем свете.  [15]



Страницы:      1