Cтраница 2
OH) 2 даны только значения межплоскостных расстояний и относительных интенсив-ностей [350], структура основных хлоридов CuCl2 - 3Cu ( OH) 3 [ 351I и CuOHCl [ 352 изучена подробно. [16]
OH) 2 даны только значения межплоскостных расстояний и относительных интенсив-ностей [350], структура основных хлоридов CuCl2 - 3Cu ( OH) 2 [ 351I и CuOHCl [ 352 изучена подробно. [17]
Для нее приводятся [174, 177] полностью совпадающие значения межплоскостных расстояний и относительных интенсивностей линий. Характерные для а - СЮОН линии отвечают следующим межплоскостным расстояниям: 4 46; 2 42; 1 85 А. Со временем выяснилось, что оксигидроокись хрома - соединение полиморфное. [18]
Для нее приводятся [174, 177] полностью совпадающие значения межплоскостных расстояний и относительных интенсивностей линий. Характерные для сс - СЮОН линии отвечают следующим межплоскостным расстояниям: 4 46; 2 42; 1 85 А. Со временем выяснилось, что оксигидроокись хрома - соединение полиморфное. [19]
Из табл. 1, где приведены значения межплоскостных расстояний ( dml) органозамещенных образцов монтмориллонита и вермикулита, видно, что в случае монтмориллонита все четвертичные аммониевые катионы легко проникают в межслоевое пространство, тогда как в вермикулите преимущественное проникновение органических катионов начинается только при достижении в алифатической цепи 8 - 10 атомов углерода. [20]
Для сравнения в столбец 12 записывают значения межплоскостных расстояний, взятых из таблиц для предполагаемого вещества. [21]
Выше мы подробно рассмотрели соотношения между значениями межплоскостных расстояний и индицирование рентгенограмм с нахождением серий линий. Для той же цели предложены упрощающие приемы. Один из них основан на применении логарифмической линейки. [22]
![]() |
К выводу соотношения между параметрами решетки и межплоскостными расстояниями. [23] |
Иногда бывает необходимо решить обратную задачу - найти значения межплоскостных расстояний по известным параметрам решетки. В связи с этим рассмотрим соотношение между параметрами решетки и межплоскостными расстояниями. [24]
![]() |
К выводу соотношения между параметрами решетки ( в Ь с и межплоскостными расстояниями d для Л / гО ( S flf / n и Л k I ( ромбическая сншония. [25] |
Иногда бывает необходимо решите обратную задачу - найти значения межплоскостных расстояний по известным параметрам решетки. В связи с этим рассмотрим соотношение между параметрами решетки и межплоскостными расстояниями. [26]
Для расчета a и с в данном случае необходимо знать значения межплоскостных расстояний и индексы не менее двух линий. [27]
Дифракционный спектр кристаллического вещества, представляющий собой для порошкового образца совокупность значений межплоскостных расстояний d и относительных интенсивностей Jjh) дифракционных линий hjiji, является однозначной характеристикой этого вещества в данном состоянии. На этом и основана возможность идентификации кристаллических веществ по их дифракционным спектрам. Ясно, что идентификацию кристаллических веществ можно провести и без знания атомно-кристалличес-кой структуры. Достаточно лишь сравнить экспериментальный дифракционный спектр исследуемого вещества с дифракционными спектрами известных веществ - эталонов. [28]
Для этого сравниваем значения межплоскостных расстояний из своего Протокола испытаний со значениями межплоскостных расстояний различных веществ. Для совпадающих с точностью до 0 05 значений dhkl находим в колонке hkl соответствующие индексы и вносим в Протокол испытаний. [29]
С помощью универсальных таблиц для рассчитанных значений углов Брэгга находим соответствующие им значения межплоскостных расстояний. Результаты заносим в Протокол испытаний. [30]