Cтраница 2
При фотографической регистрации имеется возможность путем перемещения пластинки снять на нее несколько спектров. [16]
Вместо фотографической регистрации, а иногда в дополнение к ней, в некоторых лабораториях применяют электрическую регистрацию, благодаря этому можно значительно улучшить результаты ( гл. [17]
Достоинства фотографической регистрации Т - излучения - простота аппаратуры и методики контроля, а также наглядность его результатов; на - снимке после проявления получается изображение изделия, на котором видно расположение внутренних дефектов и их размеры. Однако при больших толщинах контролируемых изделий время, необходимое для заметного почернения пленки, оказывается чрезмерно большим, равным иногда нескольким часам или даже десяткам часов. Кроме того, пленка нуждается в последующей фотографической обработке, и проведение контроля связано с большим расходом пленки и других фотографических материалов. Поэтому при массовом контроле качества изделий, особенно в поточных производствах, фотографическая регистрация Т - излучения неудобна. [18]
Участок спектра железа, сфотографированный спектрографами с различной разрешающей способностью. [19] |
При фотографической регистрации на разрешающую способность влияет зерно фотоэмульсии. Применение крупнозернистых фотоэмульсий ухудшает разрешающую способность прибора. [20]
При фотографической регистрации временное разрешение можно получить с помощью электромеханических, электрооптических или магнитооптических затворов, но из-за экспериментальных трудностей эти методы практически не применялись. [21]
При фотографической регистрации с большими экспозициями или фотоэлектрической записи, которая может продолжаться некоторый длительный отрезок времени, необходимо учитывать изменение температуры и атмосферного давления. При изменении температуры вследствие линейного расширения изменяется толщина распорного кольца между зеркалами ИФП, а также показатель преломления воздуха в связи с колебаниями атмосферного давления. Это приведет к изменению разности хода (7.3.1), а значит, и смещению интерференционной картины. Применение термостатирования ИФП может уменьшить или полностью исключить влияние колебания температуры. [22]
При фотографической регистрации используется внешняя или внутренняя установки интерферометра со спектрографом. На рис. 22.1 представлена внешняя установка, а на рис. 22.2 - внутренняя установка интерферометра со спектрографом. [23]
При фотографической регистрации вращение происходит с постоянной скоростью; при дифрактометрической - скачками от одного дифракционного положения к другому с одновременным изменением позиции счетчика. [24]
Принцип фотографической регистрации был впервые применен к термоэлектрическому пирометру Роберте-Аустеном в 1891 г. и разработан в его исследованиях над сплавами золота, меди, железа и других металлов. [25]
При фотографической регистрации обычно не требуется никакой перестройки приборов при переходе от одного анализируемого объекта к другому. [26]
При фотографической регистрации дифракция сплошного излучения является одной из причин, усиливающих фон, поэтому необходимо выбрать напряжение на трубке, при котором достигалось бы оптимальное соотношение между интенсивностью сплошного и характеристического излучения. Эта оптимальная величина рабочего напряжения равна 5 - 6 Ц0, В современных типах дифрактометров, регистрирующая схема которых включает амплитудные анализаторы, влияние сплошного излучения снижается, но на выбор оптимального значения напряжения это не влияет. [27]
При фотографической регистрации на стигматическом приборе бывает выгодно также по возможности уменьшить высоту освещенной части щели. При этом уменьшается входящий в прибор поток и, следовательно, рассеянный свет, освещенность же спектра остается неизменной. Столь же важен подбор подходящего приемника излучения. Например, в ультрафиолетовой области спектра нецелесообразно использовать панхроматические пластинки или оксидно-цезиевый фотокатод - приемники, чувствительные в видимой и даже ближней инфракрасной части спектра. При работе в красной части спектра часто выгодней использовать лампу накаливания, чем криптоновую дуговую лампу высокого давления. Последняя дает много нежелательного, излучения в ультрафиолетовой и видимой части спектра. [28]
Участок спектра стали рифма концентрации определя-е аналитическими линиями хрома -, элемента в эталонах. [29] |
При фотографической регистрации применяют следующие приемы построения графиков. [30]