Рентгенограмма - стекло - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Вам помочь или не мешать? Законы Мерфи (еще...)

Рентгенограмма - стекло

Cтраница 1


1 Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей различными веществами.| Микрофотометрические кривые рентгенограмм стеклообразного кремнезема j ( а и кристобалита ( б. [1]

Рентгенограммы стекол в общем сходны с рентгенограммами жидкостей и имеют широкие дифракционные полосы.  [2]

Между рентгенограммами стекол и кристаллов одного и того же вещества имеется известное соответствие. Наиболее ярким линиям на диаграмме для кристаллов отвечают широкие дифракционные полосы у стекол.  [3]

Сопоставление рентгенограмм кристаллов, жидкостей и стекол показало, что рентгенограммы стекла аналогичны рентгенограммам жидкостей. Поэтому стекло рассматривается как сильно переохлажденная жидкость. Правильное расположение молекул в агрегатах наблюдается на небольших расстояниях.  [4]

Из полученных результатов следует, что наличие широких полос на рентгенограммах стекол связано с конечностью размеров кристаллов. Поэтому в дальнейшем для решения ряда принципиальных вопросов строения стекол необходимо выполнить детальные теоретические и экспериментальные исследования дифракции рентгеновских лучей па кристаллах конечных размеров с учетом пространственного распределения электронов.  [5]

Рэндолл, Руксби и Купер установили, что расположение дифракционных максимумов на рентгенограммах стекол отвечает наиболее интенсивным дебаевским линиям на ренгенограммах тех же веществ в кристаллическом состоянии; это также свидетельствует о сходстве структуры стеклообразных и кристаллических веществ. Они рассчитали кривые интенсивности кристобалита и кристаллической буры при допущении, что линейные размеры кристаллитов составляют примерно 0 15 - 0 20 нм.  [6]

Если заменить стекло с примесями на чистое невозможно, то следует, рассчитав рентгенограмму стекла, проиндицировать линии, и в дальнейших расчетах учитывать присутствие на рентгенограмме линий примесей.  [7]

Когда Ларк-Горовиц и Миллер получили аналогичные рентгенограммы для расплава и кристаллической фазы, предполагалось, что на рентгенограммах стекла максимумы, соответствующие максимумам на рентгенограммах кристалла, должны были бы быть шире их.  [8]

9 Кривые рассеяния. [9]

Из соотношения ( 11 7) следует, что с увеличением дисперсности ( уменьшение /) ширина дифракционного максимума растет. Поэтому размытые максимумы на рентгенограммах стекол вызваны также и весьма малыми средними размерами кристаллов.  [10]

Весьма интересно проследить, как именно протекает процесс подготовки структуры стекла к кристаллизации во внутренних слоях. Рассмотрим рис. 11.116. Верхняя кривая относится к поверхности образца, на которой образовалась первая кристаллическая дымка. Эта дымка состоит в основной своей части из бисиликата натрия, у которого самый интенсивный максимум отражения лежит у 9 60 - 9 65 либо у 9 80 мк. Последующие кривые относятся к слоям, лежащим на глубине d 0 5; 1 2; 1 8; 3 и 4 мм. Рентгенограмма, снятая со второго слоя ( d 1 2 мм), представляла собой рентгенограмму типичного стекла. Из сопоставления всех кривых видно, что в результате тепловой обработки полосы, которые в исходном стекле лежали у 9 10 - 9 20 и 10 50 - 10 55 мк, сближаются между собой; кроме того, между ними появляются промежуточные полосы. Все это указывает на то, что в стекле в период подготовки его к кристаллизации действительно происходит синтез между компонентами, богатыми кремнеземом, и компонентами, богатыми натрием, в результате чего создаются промежуточные структуры. В слоях, лежащих ближе к поверхности, этот синтез протекает быстрее, чем в слоях, более удаленных от нее. Вследствие этого между кристаллической коркой и серединой образца создается переходный слой стекла, наружные и глубинные участки которого находятся в разной стадии предкристаллизации стекла. У стекол разного состава толщина этого слоя может быть разной. Иногда вся толщина стекла до самого центра представляет собой переходный слой, иногда же он лежит только непосредственно под кристаллическим слоем, так что спектры отражения более удаленных от поверхности слоев в пределах точности измерения не отличаются от спектров исходных стекол.  [11]



Страницы:      1