Cтраница 1
Двухступенчатые реплики также целесообразно применять в случае очень развитого и грубого рельефа поверхности. Здесь пригоден известный полистирол-кварцевый метод, который, однако, является трудоемким. Вполне удовлетворительным материалом для промежуточного отпечатка является коллодий. Рассмотрим в качестве примера получение промежуточного отпечатка с активного угля - сорбента, исследование которого представляет значительные трудности ввиду его хрупкости, сильно развитой пористости и часто малых размеров зерен. [1]
Метод двухступенчатых реплик позволяет выявлять как мелкие, так и относительно крупные дефекты поверхности волокна, изучать широкообозримые непрерывные участки, что в свою очередь дает возможность судить о характере дефектности образца в целом. [2]
Для приготовления двухступенчатой реплики сначала получают пластиковый отпечаток, представляющий собой массивный слепок, воспроизводящий структуру исследуемого объекта. На этот первичный отпечаток наносят тонкую пленку и получают вторичный отпечаток, который отделяют от первичного обычно путем растворения последнего. [3]
Для приготовления двухступенчатой реплики сначала получают пластиковый отпечаток, представляющий собой массивный слепок, воспроизводящий структуру исследуемого объекта. Па этот первичный отпечаток наносят тонкую пленку и получают вторичный отпечаток, который отделяют от пгрвичного обычно путем растворения последнего. [4]
Описана методика получения двухступенчатой реплики ( полистирольвой и хромоугодьной отпечатки), ее возможности для исследования поверхности неровных объектов на примере силикатных волокон. [5]
Можно получать как одноступенчатые, так и двухступенчатые реплики. В первом случае реплику получают путем отложения материала непосредственно на образец, во втором - на. Оттеняющий слой наносят под небольшим углом испарением материала в вакууме, Высокой контрастности достигают при использовании урана, вольфрама, золота, платины и других веществ. Иногда для оттенения применяют углерод. На рис. 136 дана схема двух основных способов получения углеродных реплик. [7]
![]() |
Схема получения углеродных реплик одноступенчатым ( а и двухступенчатым ( б способами. [8] |
Можно получить как одноступенчатые, так и двухступенчатые реплики. В первом случае реплику получают путем отложения материала непосредственно на образец, во втором - на поверхность образца наносят пластический материал для предварительного отпечатка, воспроизводящего рельеф; затем реплику снимают с поверхности этого отпечатка и исследуют з микроскопе. [9]
Сложнее исследование нерастворимых порошков, так как здесь приходится применять двухступенчатые реплики и обычно бывает трудно отделить частицы от промежуточного отпечатка. Реплики с поверхности частиц размером в несколько микрон можно получить следующим образом. [10]
В работе [275] представлены материалы исследования механизма смыкания берегов трещины методом двухступенчатых реплик в технически чистом титане. Оказалось, что смыкание вызвано отклонением траектории трещины и появлением участков сдвигового разрушения. Смыкание трещины препятствует уменьшению коэффициента интенсивности напряжений до минимального значения цикла и происходит не по всей длине трещины, а лишь в отдельных точках ее поверхности. [11]
Для исследования проскальзывания в ультрамелкозернистых СП материалах обычно используют одно - или двухступенчатые реплики. [12]
Метод реплик для исследования сажснаполненных резин был применен Лэддом 19 в 1944 г. Он использовал двухступенчатые реплики, применив для первой ступени расплавленный клей Деко-тинского: поверхность разрушения образовывалась путем раскола замороженной резины. [13]
К сожалению, пока не представляется возможным количественно оценить точность электронно-микроскопических данных относительно размеров пор. Это связано как с трудностью измерений элементов структуры размером порядка 100 А, так и с возможностью деформирования отпечатков при получении двухступенчатых реплик с активных углей, обладающих столь развитой пористой структурой. [14]
Считается, что контраст отпечатков с изменяющейся толщиной всегда ниже, чем у отпечатков с постоянной толщиной. Контраст изображения структуры в свою очередь определяет разрешение реплик. Разрешение двухступенчатых реплик, как правило, ниже, чем одноступенчатых, и составляет не больше 200 - 300 А. Потеря разрешения в этом методе связана, по-видимому, с искажением первичного отпечатка при отдирании его от поверхности. Эти искажения могут быть уменьшены, если уменьшить сцепление пленки с поверхностью пористого образца при проникновении лака негативного отпечатка в поры исследуемого объекта. С этой целью в ряде случаев пористый образец пропитывают канифолью или водой. [15]