Cтраница 2
Как известно, повышение чувствительности и точности спектрального анализа в основном достигается увеличением разрешающей способности и светосилы спектрального прибора [1], применением фотоэлектрических методов регистрации спектра. Так как величины спектральной ширины щелей и измеряемого потока с увеличением разрешения прибора уменьшаются, то вопросы повышения светосилы приобретают особую актуальность. Показано [2], что благодаря более высокой дисперсии дифракционные приборы с профилированными решетками в видимой и инфракрасной областях спектра имеют многократное преимущество перед призменными по светосиле. Однако это справедливо только для отдельных участков спектра, так как обычные дифракционные приборы не обеспечивают высокого и постоянного пропускания в широкой спектральной области. Распределение интенсивности выделяемого излучения разных длин волн определяется функцией, описывающей дифракцию на отдельной ступени решетки. Приемлемое для работы пропускание прибор Дает в диапазоне углов дифракции ф, соответствующих части угловой ширины главного максимума этой функции. Этому условному критерию соответствует максимальная разность фаз лучей от крайних элементов отражающей поверхности ступени решетки. [16]