Светосила - спектрограф
Cтраница 3
В зависимости от аналитической задачи к освещению щели предъявляются разные требования. Для качественного эмиссионного анализа, например, необходимо достижение максимально возможной освещенности линий и наилучшего их разрешения. Эта задача может быть выполнена в том случае, если будет максимально использована светосила спектрографа по освещенности и его разрешающая способность. [31]
Это сравнение сделано при многих допущениях. При работе решетки в высоких порядках отношение ( 76) может стать больше единицы. Кроме того, мы положили, что фокусные расстояния камерных объективов спектрографов равны, однако на практике диаметр объектива ограничивает минимальное фокусное расстояние из-за аберраций, и наибольшая светосила спектрографа будет обусловлена тогда не размерами диспергирующего элемента, а относительным отверстием камерного объектива. [32]
Моррис и Пинк [6] показали, что графит также подходит для целей микроанализа. Метод графитовой искры, использованный Моррисом и Пинком, имеет большое значение: его можно рассматривать как метод микроанализа, хотя в действительности он был предназначен для определения следов элементов в полупроводниковых материалах. Предварительное концентрирование для определения следов элементов уменьшает массу пробы. Поэтому it этом случае требуется применение методов микроанализа. Вследствие малой светосилы спектрографа с большой дисперсией Моррис и Пинк вынуждены были расширить щель и работать с высокочувствительными пластинками типа 103 - 0, обладающими малым контрастом и высокой зернистостью. С аналогичной задачей определения бора в сверхчистом кремнии встретились Моррисон и Рапп [7], применившие светосильный спектрограф, причем бор от кремния был отделен ионообменным методом ( см. рис. 6, гл. [33]
Для раздельной регистрации двух линий близких длин волн размер зерен должен быть меньше расстояния между центрами линий. В противном случае линии, разрешенные диспергирующим элементом спектрографа, могут оказаться неразрешенными на фотографической пластинке. Особенно заметно разрешающая способность фотопластинки сказывается на практической разрешающей способности спектрографа с короткофокусным объективом камеры. Поэтому обычно приборы с высокой теоретической разрешающей способностью имеют длиннофокусный объектив. Уширение линий на фото - Светосила спектрографа. [34]
 |
Принцип метода последних линий. [35] |
Эти характеристические концентрации, при которых некоторые спектральные линии становятся невидимыми, можно установить только с помощью образцов известного состава. Очевидно, что численная величина характеристических концентраций зависит также от экспериментальных условий. Поэтому метод последних линий можно применять только в том случае, если спектр анализируемого материала получают строго в соответствии с предписанными экспериментальными условиями. Другое требование заключается в воспроизведении интенсивности спектральной линии по отношению к фону. Это зависит от ряда факторов. Прежде всего необходимо, чтобы почернение фбна легко наблюдалось. В этом случае величина концентрации, при которой исчезает спектральная линия, не будет зависеть, например, от чувствительности примененных пластинок, экспериментальных условий проявления и светосилы спектрографа. В противоположность этому ширина щели спектрографа и его разрешающая сила оказывают влияние, так как разность почернений линий и фона неизбежно увеличивается с уменьшением ширины щели и увеличением разрешающей силы прибора. Интенсивность спектральных линий и, следовательно, почернений линий, за исключением случаев очень малой ширины щели ( дифракция света), совершенно не зависит от ширины щели. В то же время интенсивность фона возрастает пропорционально ширине щели спектрографа. Фоновое излучение является частично непрерывным излучением. Поэтому количество световой энергии, падающее на место спектральной линии, тем больше, чем шире щель. [36]
Страницы: 1 2 3