Свойство - прибор
Cтраница 4
Ошибка измерения оптической плотности зависит от свойств прибора. Область оптических плотностей, где относительная ошибка их определения не превышает 3 %, заключена в пределах 0 3 - 0 8 ( см. гл. [46]
Эти соотношения не зависят ни от свойств прибора, ни от исследуемого спектра; они являются следствием того, что в выражения для систематических и случайных ошибок ширина щелей прибора и постоянная времени регистрирующей системы входят в соответствующих степенях. [47]
В параметрических стабилизаторах стабилизация основана на свойствах приборов сохранять постоянство напряжения п) и изменении в определенных пределах протекающего через них тока. При малых величинах стабилизируемого напряжения используют кремниевые стабилитроны. [48]
Выражение (3.4) является основным уравнением, характеризующим свойства приборов. [49]
Они производятся либо для определения качеств и свойств приборов в данных условиях эксплуатации, либо имеют целью определить соответствующие поправки, вызываемые влиянием внешних факторов на показания прибора. [50]
Однако в спектрометрической технике при таком описании временных свойств прибора термином разрешающее время не пользуются. [51]
Для некоторых измерительных приборов вводится понятие помехоустойчивости - свойства прибора правильно воспроизводить значение измеряемой величины при наличии внутренних ( флуктуации, фон) и внешних помех. [52]
 |
Влияние поверхостного заряда на свойства. [53] |
Рассмотрим несколько примеров, иллюстрирующих влияние поверхности на свойства приборов. [54]
 |
Принадлежности к оптическим микроскопам. [55] |
Предназначены для расширения возможностей исследования либо для улучшения вксплуатационных свойств прибора. [56]
В настоящей главе были рассмотрены различные подходы к описанию свойств приборов на основных режимах работы. Общая методика комплексной оценки всех практически важных свойств в настоящее время разработана не полностью. Однако в этом направлении ведутся интенсивные разработки, основанные на использовании методов информационно-энергетической теории. [57]
Наконец, инвариантность по отношению к t означает, что свойства прибора со временем не изменяются. [58]
 |
Структурные схемы транзисторов. [59] |
Коллектор и эмиттер в транзисторе можно менять местами, но свойства прибора при прямом и обратном ( инверсном) включении будут отличаться, что обусловлено асимметрией транзисторной структуры и различием свойств областей эмиттера и коллектора. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5