Cтраница 3
Еп, что объясняется как дефектами технических диэлектриков, так и усложнением явления пробоя предварительным развитием разрядов у краев обкладок или внутри диэлектрика. Кроме того, средние значения напряженности поля, соответствующие пробою, которые определяются из опыта, при наличии искажений электрического поля могут заметно отличаться от местных значений напряженности в тех участках, где непосредственно происходит пробой. Поэтому фактическое значение пробивной напряженности в месте пробоя может заметно превышать то значение, которое мы находим, разделив пробивное напряжение на толщину диэлектрика. [31]
Отпечатки факела распыления лакокрасочного материала, полученные при применении электростатического генератора-были лучшего качества, чем при применении высоковольтного выпрямительного устройства В-140-5-2. Это объясняется тем, что среднее значение напряженности электрического поля, создаваемого электростатическим генератором, равно его максимальному значению, а напряженность электрического поля высоковольтного выпрямителя ( по однополупериодной схеме) в 2 раза меньше. [32]
Та же несообразность и в названиях: средними значениями истинных напряженностей являются электрический вектор и вектор магнитной индукции, тогда как индуцированные поля включают вектор электрической индукции и магнитный вектор. Что же касается до использования обозначений Е, Н, j и р, совпадающих с обозначениями в ( 1) - ( 4), но имеющих иной смысл, то это практически при некоторой осмотрительности не ведет к недоразумениям. [33]
Та же несообразность и в названиях: средними значениями истинных напряженностей являются электрический вектор и вектор магнитной индукции, тогда как индуцированные поля включают вектор электрической индукции и магнитный вектор. Что же касается до использования обозначений Е, Н, j и р, совпадающих с обозначениями в ( 1) - ( 4), но имеющих иной смысл, то это практически при некоторой осмотрительности не ведет к недоразумениям. [34]
Расчет напряженности электростатических полей, соответствующих точкам а и Ь на рис. 25, дает соответственно 4 1 105 и 0 9 105 эл. Эти числа находятся в хорошем согласии со средним значением напряженности поля у поверхности рутила, которое равно 2 72 103 эл. Однако в случае угля, а также металлов электростатическое поле характеризуется значительно более равномерным распределением на поверхности, чем в случае рутила. Более того, как уже указывалось в разделе VI, 2, поля у этих двух типов поверхностей имеют взаимно противоположную направленность. [35]
Расчет напряженности электростатических нолей, соответствующих точкам а и b на рис. 25, дает соответственно 4 1 10Ь и 0 9 - 105 эл. Эти числа находятся в хорошем согласии со средним значением напряженности поля у поверхности рутила, которое равно 2 72 - 105 эл. Однако в случае угля, а также металлов электростатическое поле характеризуется значительно более равномерным распределением на поверхности, чем в случае рутила. Более того, как уже указывалось в разделе VI, 2, ноля у этих двух типов поверхностей имеют взаимно противоположную направленность. [36]
Это же наблюдается при создании положительного заряда на пленке любым другим способом, в том числе осаждением положительных ионов из газа, что весьма возможно для условий сварочной дуги в парах металлов. При толщине пленки порядка 10 - 4 см среднее значение напряженности поля достигает в ней 106н - 107 в / см, что может обеспечивать Шоттки-электроны и автоэлектронную эмиссию. [37]
Существенно подчеркнуть, что, определяя Емикро, мы помещали электрон в произвольно выбранные точки по отношению к молекулам диэлектрика. Это вызвано тем что в этом случае речь идет о среднем значении напряженности поля, определенного для тех точек, где расположены центры молекул, в предположении, что сама молекула каждый раз удалена. Таким образом, точки, для которых теперь берется среднее значение, выбраны не произвольно, по отношению к ним остальные молекулы поляризованного диэлектрика расположены не беспорядочно, и они дают свое добавочное поле. [38]
Очевидно, в случае неоднородного поля момент сил, действующих на рамку, измеряет среднее значение напряженности поля в пределах рамки. Для того, чтобы измерить напряженность поля в данной точке, размеры рамки должны быть настолько малыми, чтобы в пределах рамки поле могло считаться однородным. [39]
Используя формулы ( 35) и принимая отношение удельных сопротивлений пленки и бумаги равным 10, находим, что при х 2 / 3 напряжение на пленке будет 1143 в и на бумаге 57 в, а при дс1 / 3, соответственно, 1000 и 200 в; это дает значения напряженности поля: при х 2 / 3 в пленке 57 кв / мм и в бумаге 5 7 кв / мм, а при х1 / 3 в пленке 100 кв / мм и в бумаге 10 кв / мм. Таким образом, основную электрическую нагрузку несет пленка, что обеспечивает возможность работы бумаги при высокой температуре и возможность повышения среднего значения напряженности поля комбинированного диэлектрика в сравнении с чисто бумажным, а следовательно, и снижения его толщины при заданном напряжении. [40]
Существуют различные видоизменения экспериментальной методики. Например, второе соотношение между v и elm может быть получено в высоко вакуумной трубке измерением полного падения потенциала V ( равного произведению среднего значения напряженности поля Е на расстояние), через которое проходит электрон. [41]
В плазме эта формула остается в силе, пока мало штарковское расщепление Ар Зеао п2, где ао - боровский радиус, F - среднее значение напряженности микрополя в плазме. [42]
Эта формула по виду вполне аналогична выражению (10.2) для работы при бесконечно малом изменении электрического поля. Следует, однако, заметить, что физическая аналогия между этими двумя формулами в действительности не так глубока, поскольку Н, в противоположность Е, не есть среднее значение истинной микроскопической напряженности поля. [43]
Эта формула по виду вполне аналогична выражению ( 10 2) для работы при бесконечно малом изменении электрического поля. Следует, однако, заметить, что физическая аналогия между этими двумя формулами в действительности не так глубока, поскольку Н, в противоположность Е, не есть среднее значение истинной микроскопической напряженности поля. [44]
Исследование электрических явлений в озерах показало, что электрическое поле не только может быть самостоятельным объективным параметром среды, но и служить для решения научных и прикладных задач гидрологии. Среднее значение напряженности теллурического поля близко к нулю. [45]