Cтраница 2
Юстировка линейки ведется на упрощенной измерительной машине шаговым методом по концевым мерам 3-го разряда. Линейка 20 устанавливается горизонтально и параллельно линии измерения машины; шаговым методом проходят 0 - 100, 0 - 200, 0 - 300 и прочие интервалы линейки, причем по сетке микроскопа выверяются перекос масштабных сеток, параллакс и расстояния между нулевыми биссек-торами сеток. Расстояния между нулевыми делениями сеток выдерживаются путем продольного смещения самих оправ 25 масштабных сеток без их разворота. [16]
Первый переход - обработка базового отверстия диаметром 3 мм. Установленный в шпинделе электрод выверяют по концентричности относительно оси шпинделя. Центр перекрестия сетки микроскопа совмещают с осью электрода путем измерения диаметра электрода при помощи микрометрических винтов установочно-измерительной системы и микроскопа и последующего смещения сетки ( вместе с микроскопом) на половину диаметра от образующей окружности электрода по двум координатам. Координатный стол с укрепленной на дем матрицей перемещают в поперечном направлении до совмещения горизонтальной ( продольной) базовой кромки с продольным штрихом сетки микроскопа и затем отводят на 15 мм при помощи микрометрического винта поперечной каретки с точным отсчетом размера по лимбу. Таким же способом устанавливают стол в продольном направлении. После такой установки обрабатывают первое отверстие. [17]
С помощью микроманипулятора изображение кристалла устанавливают в определенное место сетки микроскопа. Затем при помощи вакуумной присоски захватывают кристалл и фиксируют его в определенном положении. В тот же участок сетки микроскопа подводят изображение контактируемой части подложки, на которую опускают монтируемый кристалл. [18]
Измеряется длина записи Ьзам по расстоянию линии 2 - 3, 6 - 7, 10 - 11 от нулевой линии бланка с точностью до 0 5 мм. На бланке ( рис. 5) длина LaaM на палетке определена более 30 мм, но менее 35 мм. Между 30 и 35 мм измерение производим по сетке микроскопа. [19]
Измеряется длина записи L3aM по расстоянию линии 2 - 3, 6 - 7, 10 - 11 от нулевой линии бланка с ТОЧНОСТАЮ до 0 5 мм. На бланке ( рис. 5) длина L3aM на палетке определена более 30 мм, но менее 35 мм. Между 30 и 35 мм измерение производим по сетке микроскопа. [20]
Изображения сетки 2 и марки 5 рассматривают через микроскоп с окуляр-микрометром со стороны сетки трубы. Биение изображений сетки 2 и марки 5 относительно изображения перекрестия сетки микроскопа при вращении посадочного конуса трубы с объективом 2 и фокусирующей линзой 6 в гнезде конусной втулки М 80 устраняется смещением фокусирующей линзы 6 согласно методике, приведенной в гл. [21]
Проверив правильность установки детали и равномерность припуска на обработку - посредством вращения диска и перемещения салазок 6 и 7 с одновременным наблюдением в микроскоп, окончательно закрепляют деталь. Сектор шлифования на заданный угол устанавливается по упорам. Шлифовальный круг подается на врезание до тех пор, пока контур профиля обрабатываемого радиуса R1 не совпадет с центром перекрестия сетки микроскопа. [22]
В рассматриваемом случае для обработки поверхности К салазки б и 7 нужно установить в первоначальное положение ( в котором они находились в начале обработки дуги), а салазки 4 и 5 - в среднее нулевое положение. Развернув диск на 180, переместив салазки 4 на величину l - L - R1 и придав салазкам 5 возвратно-поступательное движение, обрабатывают поверхность К до совпадения ее с перекрестием сетки микроскопа. Так же шлифуют и другие два участка профиля. [23]
На универсальном микроскопе возможно измерение колес с модулем менее 1 мм, диаметрами 14 - 38 мм грубых классов точности. При диаметрах менее 14 мм возможно измерение колес всех классов точности. Проверяемое колесо центрируется на поворотном столе микроскопа. Вертикальная пунктирная линия сетки микроскопа, предварительно установленная на ноль, подводится касательно к профилю з ба в начале эволь-вентного участка ( фиг. [24]
На универсальном микроскопе возможно измерение колес с модулями менее 1 мм, диаметрами 14 - 38 мм грубых классов точности. При диаметрах менее 14 мж возможно измерение колес всех классов точности. Вертикальная пунктирная линия сетки микроскопа, предварительно установленная на ноль, подводится касательно к профилю зуба в начале эвольвентного участка ( фиг. [25]
Затем, пользуясь винтами установочного приспособления, смещают изображение марки авторефлектора так, чтобы перекрестие штрихов сетки проходило через края наиболее удаленных и равностоящих от центра штрихов марки авторефлектора. Для проверки параллельности смещения визирной оси визирной трубы относительно наружной цилиндрической поверхности на поверочную плиту в специальных призмах закрепляют визирную трубу со снятым окуляром, а со стороны окуляра ( на одинаковой высоте с трубой) наводят микроскоп с окуляр-микрометром. Со стороны объектива в качестве осветителя используют подставку от марки из комплекта прибора. Фокусируют микроскоп на изображение перекрестия штрихов сетки визирной трубы и, вращая барабан отсчетного устройства микроскопа, совмещают вертикальный штрих сетки микроскопа с перекрестием штрихов сетки визирной трубы. В качестве отсчетного устройства шкалы используют микроскоп с окуляр-микрометром типа МОВ-1 и с сеткой в-виде перекрестия. Снимают и записывают отсчеты по барабану отсчетного устройства микроскопа ( отсчет A J. Разность отсчетов ( А2 - Aj); ( А3 - А; ( Л4 - А г) записывают в таблицу. Повернув отсчетное устройство микроскопа на 90 вокруг геометрической оси трубы, повторяют измерения. Измеренное микроскопом смещение изображения сетки визирной трубы в диаметрально противоположных точках не должно превышать 0 02 мм. Для проверки положения центра марки авторефлектора относительно наружной цилиндрической поверхности трубы устанавливают на поверочную плиту на специальной призменной подставке визирную трубу. Со стороны объектива ( на одинаковой высоте с трубой) помещают отсчетный микроскоп с окуляр-микрометром. [26]
Первый переход - обработка базового отверстия диаметром 3 мм. Установленный в шпинделе электрод выверяют по концентричности относительно оси шпинделя. Центр перекрестия сетки микроскопа совмещают с осью электрода путем измерения диаметра электрода при помощи микрометрических винтов установочно-измерительной системы и микроскопа и последующего смещения сетки ( вместе с микроскопом) на половину диаметра от образующей окружности электрода по двум координатам. Координатный стол с укрепленной на дем матрицей перемещают в поперечном направлении до совмещения горизонтальной ( продольной) базовой кромки с продольным штрихом сетки микроскопа и затем отводят на 15 мм при помощи микрометрического винта поперечной каретки с точным отсчетом размера по лимбу. Таким же способом устанавливают стол в продольном направлении. После такой установки обрабатывают первое отверстие. [27]
Лимб 2 центрируют в корпусе / непосредственно на оси поворота головки. Для этого два микроскопа ( 50х) устанавливают над делениями лимба 2, предварительно собранного в корпусе / без верхней закрытой крышки. Микроскопы устанавливаются на углы 0 и 90 лимба 2 и фокусируют на центрировочную окружность лимба. Поперечными перемещениями лимба 2 с помощью четырех юстировочных винтов 3 оправы лимба добиваются, чтобы при вращении его вокруг оси линия центри-ровочной окружности не смещалась относительно допускаемых биссек-торов на сетках микроскопа. После устранения эксцентриситета в двух взаимно перпендикулярных направлениях лимб окончательно закрепляют с оправой / / с помощью винтов и заливают глето-глицериновым цементом. [28]
Обработку профилей на станке производят следующим образом. Благодаря тому что отношение плеч пантографа равно 50: 1, сетка микроскопа, а следовательно, и центр ее перекрестий точно повторяют контурную линию чертежа профиля, уменьшенную в 60 раз. Заготовку закрепляют на столе так, чтобы предназначенный для обработки участок профиля находился - в поле зрения микроскопа. Шлифовальный круг вручную подводят к заготовке и шлифуют до совпадения обрабатываемого участка профиля с перекрестием сетки микроскопа. [29]