Сечение - электронный луч - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Пойду посплю перед сном. Законы Мерфи (еще...)

Сечение - электронный луч

Cтраница 2


16 Схематическое изображение двухкаскадного УДАЭЛ с коррекцией и электростатическим отклонением. [16]

Точность установки электронного луча в плоскости носителя информации 6 определяется в основном, ошибками отклонения второго каскада отклонения, так как неточности отклонения в первом каскаде устраняются за счет вырезания из сечения электронного луча части, площадь которой равна площади апертурного отверстия микролинзы.  [17]

В большинстве случаев одним из существенных параметров электроннолучевого прибора является разрешающая способность, определяемая в общем случае количеством информации, которая может быть записана на экране или мишени электроннолучевого прибора. Очевидно, чем меньше сечение электронного луча в плоскости приемника, тем больше объем информации, умещающейся на единичной площади поверхности экрана или мишени.  [18]

Плотность тока в луче распределена по закону Гаусса, в экранирующей пластине система отверстий. Центры первого апертурного отверстия и сечения электронного луча в плоскости экранирующей пластины при отсутствии напряжения сигнала на отклоняющих пластинах совпадают.  [19]

Возможность сварки в узких разделках и труднодоступных местах является одним из преимуществ ЭЛС перед другими способами сварки плавлением. Эта возможность достигается благодаря малым размерам сечения электронного луча и его автономности по отношению к свариваемому изделию. Однопроходная сварка нескольких расположенных друг над другом стыков может быть выполнена проникающим лучом, а в некоторых конструкциях соединение двух оболочек может быть осуществлено через ребро жесткости.  [20]

Верхняя граничная частота может быть получена при передаче изображения, состоящего из максимального числа различных по яркости элементов. Такое изображение напоминает шахматную доску, площадь клетки которой равна сечению электронного луча. В полученной формуле не учтены потери времени на обратный ход разверток строк и полей, а также влияние площади сечения развертывающих лучей приемной и передающей трубок.  [21]

В первом случае фокусирующую систему называют электростатической; во втором случае говорят об электронном прожекторе с магнитной фокусирующей системой. В обоих случаях требования к главной проекционной линзе одни и те же: она должна обеспечить минимально возможные размеры сечения электронного луча, а следовательно, и светящегося пятна на экране трубки.  [22]

Большинство прожекторов современных электронно-лучевых приборов строят по двухлинзовой оптической схеме. Использование двухлинзового прожектора с первой сильной ( короткофокусной) линзой и второй слабой ( длиннофокусной) позволяет получать в плоскости экрана сечение электронного луча диаметром порядка 0 1 мм при диаметре эмитирующей поверхности катода около 1 мм.  [23]

Обычно в плоскости носителя информации любые две соседние точки, в которые может устанавливаться электронный луч, отстоят друг от друга на одинаковом расстоянии. Поэтому при четном числе разрядов двоичного кода ( и отклонении луча по вертикали и горизонтали) образуется квадратный точечный растр, а при нечетном - прямоугольный. В общем случае сечение электронного луча в плоскости носителя / информации или экрана отличается от точечного. Характерно, что для всех УДАЭЛ в плоскости экрана электронный луч всегда занимает только дискретные положения.  [24]

Рассмотрим простейший в7 некоторой мере идеализированный случай. Пусть экран ( носитель информации) имеет форму квадрата со стороной L, элементарный участок, на котором происходит регистрация луча, также квадратный со стороной ft, плотность тока в луче постоянна. Из-за погрешностей отклонения центр сечения электронного луча не совпадает с центром элементарного участка, где он должен регистрироваться. Можно считать, что полезный сигнал, выделяемый на элементарном участке, пропорционален площади, которая облучается электронным лучом.  [25]

26 Внешний вид ультразвукового дефектоскопа ( микроскопа проф. С. Я. Соколова с электронными трубками.| Схема ультразвукового дефектоскопа ( микроскопа В. С. Соколова. [26]

Электрический заряд на вторую поверхность пластинки подается через электронный луч, развертывающийся синхронно с лучом приемного телевизионного кинескопа. Таким образом, на пластинке возникают точечные пьезоэлектрические заряды один вслед за другим в соответствии с обеганием электронного луча по всей ее поверхности. Интенсивность этих зарядов в каждой точке пластинки будет одинакова. Вследствие этого в каждый момент времени пластинка излучает ультразвуковой луч площадью сечения, равной площади сечения электронного луча трубки. В исследуемый объект направляется бегающий ультразвуковой луч, а не весь пучок излучения, как во всех существующих ультразвуковых дефектоскопах. В качестве приемника в этом устройстве служит простая пьезоэлектрическая пластинка с обычными электродами, нанесенными по всей площади с обеих сторон.  [27]

При считывании О в идеальном случае на приемник электронного потока не должен попадать ни один электрон. Однако при высокой плотности записи информации, когда приходится уменьшать толщину носителя, начинает проявляться вредное влияние прозрачности. Причем, это влияние тем больше, чем выше ускоряющее напряжение и тоньше пленка, из которой выполнен носитель информации. Мешающий ток, который появляется при считывании О, можно рассчитать при любом распределении тока по сечению луча, если только размеры сечения электронного луча в плоскости носителя информации не превышают размеров элементарного участка.  [28]



Страницы:      1    2