Cтраница 3
Для решения задачи лучше всего было бы определить сечения образования каждого химического элемента в зависимости от энергии экспериментально на ускорителях. Очевидно, это невероятно обширная программа, но довольно значительная ее часть уже выполнена. [31]
С ( Е) - введенное в (4.38) сечение образования составного ядра испущенной частицей, р ( Ef) - плотность уровней конечного ядра с энергией возбуждения Ef. [32]
Ос ( Е) - введенное в (4.38) сечение образования составного ядра испущенной частицей, р ( Ej) - плотность уровней конечного ядра с энергией возбуждения Ef. [33]
Подобную оценку позволяет сделать также изотопный эффект в сечениях образования осколочных ионов при диссоциативном захвате электронов молекулами. [34]
В табл. 4 приведены значения изотопного эффекта в сечениях образования отрицательных ионов, измеренные к настоящему времени. [35]
![]() |
Зависимость a ( A, Z0 [ IMAGE ] - 17. Зависимость a ( A, Z0 от А. от ss ( A. [36] |
Параметр Q носит характер нормирующего множителя, определяющего правильность значений абсолютных сечений образования ядер-продуктов. [37]
То, что обычно называют масс-спектром, представляет собой набор отношений сечений образования различных по составу ионов. [38]
![]() |
Зависимость сечений двойной перезарядки вперед с образованием. [39] |
Интересный эмпирический факт относительно ДП при 50 МэВ возник при измерениях сечений образования двойных изо-бараналоговых состояний для ряда ядер с / 1 ( рис. 7.28): сечение вперед как функция массового числа ядра А ведет себя очень близко к константе. Ожидается, что в таких ядрах ДП происходит главным образом на двух валентных нейтронах. [40]
Выразить эффективное сечение ядерной реакции А ( а, Ь) В через сечение образования составного ядра аа и ширины его уровня, через который она идет, Г и Г &. [41]
Количественное определение, или нахождение так называемого химического выхода, необходимо для расчета сечений образования продуктов реакций. В ходе многочисленных операций по радиохимической очистке выделяемой фракции происходят некоторые потери вещества носителя и, следовательно, непосредственно интересующих нас радиоактивных атомов выделяемого элемента. Учет этих потерь можно произвести, определив химический выход. [42]
Таким же методом возможно проводить оценку эффективных сечений образования отрицательных ионов, сравнивая ток ионов, сечение образования которых определяется, с током ионов, сечение образования которых известно. [43]
Поскольку значение ас ( Е) падает с ростом, энергии, соотношение ( 4) для сечения образования комплекса применимо не при очень больших энергиях. [44]
Мнимая часть функции iv ( q2) при цг 0 характеризует время жизни виртуального фотона и определяет сечение образования адронов, скажем, в электрон-пози-тронном столкновении. Следовательно, она может быть непосредственно измерена на опыте. Вещественная часть iv ( q2) связана с мнимой согласно дисперсионному соотношению. [45]