Cтраница 2
Основная часть изделий из низковольтного фарфора ( ролики, втулки и др.) готовится методом прессования ( ГОСТ 20419 - 83, сизм. Пресс-порошок заданной гранулометрии ( от 0 3 до 1 мм) получают сушкой распылением шликера в распылительной сушилке. [16]
А г 0 ( Т0); В - коэффициент пропорциональности, численно равный d In г 0 ( Г) /; сизм с Дс; Дс ХДсг; с, с 3м - соответственно концентрация растворителя в пробе смолы, отбираемой из технологического аппарата и его концентрация в измерительной камере. [17]
При небольших пролетах и грузоподъемности применяют кран-балки ( подвесные краны) электрические общего назначения, выпускаемые в соответствии с ГОСТ 7890 - 73 ( сизм. [18]
Качество кварц-полевопшатовых материалов, являющихся продуктами обогащения горных пород и предназначенных для производства санитарно-строительной керамики и низкотемпературного фарфора, определяется ГОСТ 15045 - 78 ( сизм. [19]
![]() |
Расчетные вольткулоновые характеристики для схем I ц II. [20] |
Уравнения ( 1) и ( 2) справедливы при условии, что Сз, СИЗм С2, 4 - наших экспериментах С31000 пф, Сизм 1000 пф, С260 5 - н5 пф, С42 пф. [21]
Для случая модулятора с заземленной пластиной с одним вводом СИзм Сд - f Свк, для модулятора с двумя вводами Сизм Сд СЕК Свк, где Сизм - емкость, измеряемая мостом между точками ввод - корпус; С - действующая емкость; Св к, С в к, С в к - паразитные емкости промежутка ввод - корпус. [22]
Как следует из соотношений (12.5), определяющей при этом является меньшая из емкостей Сх и Св.э. Если Сх Св. Сизм практически равна емкости исследуемого электрода. Поэтому при проведении измерений емкости используют большой вспомогательный электрод, поверхность которого более чем на два порядка превышает поверхность рабочего электрода. [23]
Следовательно, вариация коэффициента изменения на 50 % была обусловлена вариацией g и В. Но учитывая, что в это уравнение входят три параметра / Сизм, q и В, экстраполяция на длительный период по уравнению невозможна. [24]
Погрешность измерений определяет и точность анализа. Абсолютная точность - это разность между измеренным и истинным значением содержания: Сист - Сизм. Относительная точности по определению есть отношение ( Сист - СИзм) / Сист. [25]
Погрешность измерений определяет и точность анализа. Абсолютная точность - это разность между измеренным и истинным значением содержания: Сист - Сизм. Относительная точности по определению есть отношение ( Сист - СИзм) / Сист. [26]
![]() |
Эквивалентная электрическая схема измерительной ячейки. [27] |
В ряде случаев конструкция ячейки обусловливает наличие так называемого краевого эффекта, связанного с неоднородностью электрического поля на границах обкладок измерительного конденсатора. При этом величины необходимых поправок на данный эффект сами являются функцией диэлектрической проницаемости. В данном случае для определения е целесообразно пользоваться градуировочными кривыми е - Сизм или е - а ( где а - показание измерительного прибора, например, лимба компенсирующего конденсатора), построенными для достаточно большого числа эталонных жидкостей. [28]