Cтраница 1
Разрешающая сила спектрографа с решеткой определяется уравнением: Кпгп, где m - спектральный порядок и п - число линий в решетке. [1]
Разрешающая сила спектрографа с решеткой определяется уравнением: Rmn, где. [2]
Дисперсия и разрешающая сила спектрографов с горизонтальной фокусировкой лучей были подробно рассмотрены в первых работах Иоганна и Кошуа. [3]
Как влияет ширина входной щели на разрешающую силу спектрографа. [4]
Поэтому любой из возможных или уже предложенных методов повышения разрешающей силы фокусирующих спектрографов должен в основе своей содержать предложение, позволяющее уменьшить дополнительное расширение линий в этих приборах по сравнению с их естественной шириной. [5]
Из всех приведенных выше данных следует, что значения относительных пределов обнаружения элементов, как правило, обратно пропорциональны практической разрешающей силе спектрографа. Последняя, в свою очередь, зависит от ряда параметров прибора и изменяется вместе с ними. Поэтому целесообразно рассмотреть влияние наиболее важных характеристик спектрографа ( например, угловой дисперсии, линейной дисперсии, ширины щели, фокусного расстояния коллиматорного объектива) на практическую разрешающую силу спектрографа и, следовательно, на величину относительных пределов обнаружения. [6]
Из выражения ( 34) следует, что в рассмотренном практически распространенном случае анализа, когда при переходе от одного спектрального прибора к другому почернения сплошного фона на спектрограммах сохраняются примерно постоянными, минимальная обнаружимая яркость излучения аналитической линии тем меньше, чем больше практическая разрешающая сила спектрографа. [7]
Мы видим, что разрешающая сила призмы зависит от размера ее основания b и дисперсии вещества, из которого она сделана. Разрешающая сила таких устройств близка к разрешающей силе спектрографа с дифракционной решеткой стандартной величины. [8]
В табл. 3 даны основные условия проведения экспериментов и полученные результаты. Таким образом, подтверждается полученная выше обратно пропорциональная зависимость между значением относительного предела обнаружения элемента и практической разрешающей силой спектрографа. [9]
В табл. 3 даны основные условия проведения экспериментов и полученные результаты. Таким образом, подтверждается полученная выше обратно пропорциональная зависимость между значением относительного предела обнаружения элемента и практической разрешающей силой спектрографа. [10]
В ультрафиолетовой области этот эффект незначителен, в видимой области более существен. Однако использовать его, согласно выражению ( 34), для снижения предела обнаружения-вряд ли возможно, так как величина Y становится максимальной при некоторой оптимальной, большой ширине щели S SD, при которой ухудшается практическая разрешающая сила спектрографа. [11]
В ультрафиолетовой области этот эффект незначителен, в видимой области более существен. Однако использовать его, согласно выражению ( 34), для снижения предела обнаружения вряд ли возможно, так как величина у становится максимальной при некоторой оптимальной, большой ширине щели s s0, при которой ухудшается практическая разрешающая сила спектрографа. [12]
В первом случае микрометрический барабан крестообразного столика фотометра вращается при помощи шагового двигателя. Разрешающая сила фотометра определяется возможным наименьшим шагом движения столика. Она должна быть согласована с разрешающей силой спектрографа, примененного для получения спектрограмм. Разрешающую силу фотометров, необходимую для обработки нормальных спектрограмм, полученных на дифракционных спектрографах, можно легко рассчитать с помощью соотношений 5 Аа / ДХ mf / b и R Я / ДА, ml / b, выражающих соответственно дисперсию ( разд. Из первого соотношения можно определить измеренное на пластинке расстояние, соответствующее данной разности длин волн АХ, а из второго соотношения - еще разрешаемую минимальную разность длин волн. [13]
Из уравнений ( 21), ( 22) и ( 23) следует, что расширение линий в рентгеновских спектрографах с изогнутым кристаллом в сильной степени зависит от размеров отражающего кристалла ( ы и /) и от угла ср. Чем, при прочих равных условиях, меньше размеры кристалла и больше угол ср, тем в меньшей мере ширина линий в этих спектрографах отличается от их естественной ширины. В настоящее время известны два метода повышения разрешающей силы фокусирующих спектрографов с изогнутым кристаллом. Первый из них удобно именовать методом шлифованного кристалла, второй - методом косых плоскостей. [14]
Теоретически все линии спектра однозначно определяют эле-мент, ответственный за появление этих линий. В принципе заклю-чение о присутствии элемента можно сделать по появлению единственной спектральной линии при условии, что ее длина волны установлена с достаточной точностью. На практике, однако, точность определения длин волн ограничена фактической разрешающей силой использованного спектрографа, формой спектральных линий и точностью измерения их положения. Эти факторы становятся особенно неблагоприятными в случае многолинейчатых спектров, когда появляется возможность совпадения линий различных элементов с близкими длинами волн и вследствие этого опасность принять один элемент за другой. Поэтому из фактического присутствия линии нельзя автоматически делать вывод о том, что предполагаемый элемент реально существует в анализируемой пробе. Вообще говоря, необходимо, чтобы в спектре наблюдалось несколько аналитических линий. Поиски слишком большого числа аналитических линий требуют чрезмерных затрат труда и времени. [15]