Cтраница 3
В магнитооптических ЗУ используют эффект взаимодействия электромагнитного излучения ( поляризованное электромагнитное излучение в виде света) с магнитной средой гфи отражении или прохождении излучения через слой материала. Свет называют поляризованным, если в нем существует упорядоченность колебания вектора напряженности электрического поля Е и вектора напряженности магнитного поля Я. [31]
Оптическая активность тесно связана со взаимодействием электромагнитного излучения с веществом. [32]
Оптический неразрушающий контроль основан на взаимодействии электромагнитного излучения с контролируемым объектом и регистрации результатов этого взаимодействия. Методы, относящиеся к оптическому НК по ГОСТ 24521 - 80, различаются длиной волны излучения или их комбинацией, способами регистрации и обработки результатов взаимодействия излучения с объектом. ИК) излучения, а также информационные параметры оптического излучения, которыми являются пространственно-временное распределение его амплитуды, частоты, фазы, поляризации и степени когерентности. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектом контроля в соответствии с основными физическими явлениями ( интерференции, поляризации, дифракции, преломления, отражения, рассеяния, поглощения и дисперсии излучения), а также изменения характеристик самого объекта в результате эффектов люминесценции, фотоупругости, фотохромизма и др. используют для получения дефектоскопической информации. Оптическое излучение - это электромагнитное излучение, возникновение которого связано с движением электрически заряженных частиц, переходом их с более высокого уровня энергии на более низкий. При этом происходит испускание световых фотонов. [33]
Оптический неразрушающий контроль основан на взаимодействии электромагнитного излучения с контролируемым объектом и регистрации результатов этого взаимодействия. ИК) излучения, а также информационные параметры оптического излучения, которыми являются пространственно-временное распределение его амплитуды, частоты, фазы, поляризации и степени когерентности. Изменение этих параметров при взаимодействии с объектом контроля в соответствии с основными физическими явлениями ( интерференции, поляризации, дифракции преломления, отражения, рассеяния, поглощения и дисперсии излучения), а также изменения характеристик самого объекта в результате эффектов люминесценции, фотоупругости, фотохромизма и др. используют для получения дефектоскопической информации. Оптическое излучение - это электромагнитное излучение, возник новение которого связано с движением электрически заряженных частиц, переходом их с более высокого уровня энергии на более низкий. При этом происходит испускание световых фотонов. [34]
Фото - и комптон-эффекты являются результатом взаимодействия электромагнитного излучения с электронами. Величина коэффициента, учитывающего образование пар, зависит от величины ядерного поля и, таким образом, определяется зарядом ядра. [35]
Для объяснения результатов опытов по исследованию взаимодействия электромагнитного излучения и материи, как, например, фотоэлектрического эффекта и эффекта К омптона, было необходимо приписать лучистой энергии некоторые свойства, характерные скорее для частиц, чем для волн. [36]
Схема расположения векторов Е, Н и S в бегущей электромагнитной волне. [37] |
Радиоволновой неразрушающий контроль основан на анализе взаимодействия электромагнитного излучения радиоволнового диапазона с объектами контроля. На практике наибольшее распространение получили сверхвысокочастотные ( СВЧ) методы, использующие диапазон длин волн от 1 до 100 мм. Использование радиоволн перспективно по двум причинам: достигается расширение области применения неразрушающего контроля, так как для контроля диэлектрических, полупроводниковых, ферритовых и композитных материалов радиоволновые методы наиболее эффективны; во вторых появляется возможность использования радиоволн СВЧ диапазона. [38]
Схема расположения векторов Е, Н и S в бегущей электромагнитной волне. [39] |
Радиоволновой неразрушающий контроль основан на анализе взаимодействия электромагнитного излучения радиоволнового диапазона с объектами контроля. На практике наибольшее распространение получили сверхвысокочастотные ( СВЧ) методы, использующие диапазон длин волн от 1 до 100 мм. Использование радиоволн перспективно по двум причинам: достигается расширение области применения неразрушающего контроля, так как для контроля диэлектрических, полупроводниковых, ферритовых и композитных материалов радиоволновые методы наиболее эффективны; во вторых-по-является возможность использования радиоволн СВФ диапазона. [40]
Радиоволновая дефектоскопия основана на регистрации результатов взаимодействия электромагнитного излучения радиоволнового диапазона с объектом контроля. Применяется для обнаружения и регистрации внутренних дефектов в неметаллических материалах ( полимеры, композиты, резина, стекло, керамика, строительные материалы и т.п.), а также поверхностных дефектов металлов. Минимальный размер выявляемого дефекта в диэлектрических материалах достигает 0 01 длины волны при дифракционном методе и 0 5 длины волны при остальных методах радиоволновой дефектоскопии. [41]
Радиоволновой неразрушающий контроль основан на анализе взаимодействия электромагнитного излучения радиоволнового диапазона с объектом контроля. На практике наибольшее распространение получили сверхвысокочастотные ( СВЧ) методы, использующие диапазон длин волн от 1 до 100 мм. Использование радиоволн перспективно по двум причинам: расширения области применения диэлектрических, полупроводниковых, ферритовых и композитных материалов, контроль которых другими методами менее эффективен; возможности использования особенностей радиоволн диапазона СВЧ. [42]
Аналогично любому явлению, связанному с взаимодействием электромагнитного излучения с веществом, естественная оптическая активность имеет два аспекта - дисперсионный и абсорбционный. [43]
Если система неоднородна, то при взаимодействии электромагнитного излучения с веществом помимо процесса поглощения будет происходить также рассеяние лучистой энергии. На этом основаны такие методы количественного анализа, как нефелометрия ( измерение в отраженном потоке) и турбидиметрия ( измерение в проходящем потоке), которые в настоящей главе рассматриваться не будут. [44]
Большой класс оптических методов основан на взаимодействии электромагнитного излучения с веществом. В этой главе мы остановимся на некоторых важных свойствах излучения ( и вещества), а затем обсудим особенности оптических приборов, применяемых для измерений во всех или нескольких спектральных областях. В последующих главах мы разберем отдельно каждую большую спектральную область ( видимую, ультрафиолетовую, инфракрасную, рентгеновскую, микроволновую), останавливаясь на вопросах теории, техники эксперимента и применениях. [45]