Система - конденсор - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Почему-то в каждой несчастной семье один всегда извращенец, а другой - дура. Законы Мерфи (еще...)

Система - конденсор

Cтраница 2


Свет, испускаемый источником или прошедший через собирающую линзу, расположенную перед источником, точно фокусируется на плоскости препарата с помощью конденсора. Ирисовую диафрагму конденсора регулируют так, чтобы его апертура была немного больше апертуры объектива. Окуляр убирают или фокусируют линзу Бертранда на обратной стороне объектива. В систему конденсора вводят светонепроницаемую диафрагму ( например, конец упругой линейки) так, чтобы на обратной стороне объектива образовалось ее четкое изображение.  [16]

В данном методе уникальный спектроскопический прибор сочетает применение таблеток, состоящих в основном из материала наполнителя и позволяющих легко манипулировать с мельчайшими образцами, с системой конденсоров, позволяющей концентрировать луч прибора в предельно малое пятно на таблетке и, таким образом, полностью использовать всю доступную энергию прибора. Этот метод позволяет использовать образцы с размерами от обычно применяемых в инфракрасной спектроскопии примерно до 1 у; последние можно исследовать с помощью отражающего микроскопа. Отражающий микроскоп обычно используют как однолучевой прибор [35], в то время как систему конденсоров применяют в двухлучевых приборах и таким образом получают непосредственно спектр поглощения.  [17]

Для определения тонкости отсева ( размера наиболее крупных частиц в фильтрате) может быть применен оптический метод, основанный на принципе осаждения. Очевидно, что оптическая плотность суспензии на некоторой глубине должна оставаться неизменной пока не осядут наиболее крупные части цы твердой фазы. С окончанием осаждения наиболее мелких частиц оптическая плотность достигает неизменного минимального значения. Время от начала осаждения, в течение которого оптическая плотность остается неизменной, является искомым временем для определения размера наиболее крупных частиц в суспензии. Для определения тонкости отсева материалов по изменению оптической плотности фильтратов может применяться фотокалориметр ФЭК. Принципиальная схема фотокалориметра показана на фиг. Здесь источник света / через систему конденсоров, зеркал, теплозащитных стекол и светофильтров 2 посылает световые потоки на два селеновых фотоэлемента 6 вентильного типа.  [18]



Страницы:      1    2