Cтраница 3
Сомнительно даже восстановление высококонтрастных предметов, потому что в области каустики высококонтрастные предметы создают сложную и резкую систему интерференционных полос, идентифицировать которые, по-видимому, очень трудно. [31]
Если при работе методом Рэлея в качестве источника света используют светящуюся щель, то вертикальные края системы интерференционных полос отображаются на экране нечетко. Точечный источник света мог бы дать более резкие края, но это уменьшило бы интенсивность света. [32]
При достаточно больших п - о можно, убрав кварцевый клин, получить на экране О систему интерференционных полос, параллельных АВ и симметричных относительно нее. Расстояние каждой полосы от оси симметрии дает XQ, а номер полосы ( отсчитываемый от больших к меньшим х0) - разность хода, выраженную в единицах Я. [33]
![]() |
Интерференционные полосы в диффузиометре Цветкова. [34] |
При достаточно больших п - п0 можно, убрав кварцевый клин, получить на экране О систему интерференционных полос, параллельных АВ и симметричных относительно нее. Расстояние каждой полосы от оси симметрии дает х0, а номер полосы ( отсчитываемый от больших к меньшим х0) - разность хода, выраженную в единицах К. [35]
При достаточно больших ( п - п0) можно, убрав кварцевый клин, получить на экране систему интерференционных полос, параллельных границе раздела и симметричных относительно нее. Расстояние каждой полосы от оси симметрии дает XQ, а номер полосы ( отсчитываемый от больших к меньшим х0) - разность хода, выраженную в единицах Я. Именно на этом принципе построен диффу-зометр Брингдаля, описанный ниже. [36]
![]() |
Изображения предмета и его двойника в процессе восстановления после исправления погрешностей в одном из них. [37] |
В пределах диапазона, равного удвоенной длине аксиальной каустики, эта область окружена ярким кольцом, содержащим тонкую систему интерференционных полос. [38]
К фотоматериалам, применяемым для регистрация интерференционной картины, могут предъявляться различные требования, определяемые конкретными задачами регистрации системы интерференционных полос. Как показывают исследования таких зависимостей [96], в общем случае функция D f ( А) изменяется по закону, близкому к синусоидальному, но на этих кривых есть участки с практически линейной-зависимостью оптической плотности почернения от разности хода. [39]
При установке на станине прибора угловой меры в поле зрения прибора ( изображено на рисунке слева внизу) наблюдаются две системы интерференционных полос равной толщины в клиньях, образованных плоскостью оптической пластины с верхней поверхностью меры и с поверхностью пластины, к которой притерта мера. [40]
Направление освещения между экспозициями меняется на угол 9, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Аф0 на элементах рассеивателя и появления в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. [41]
Направление освещения между экспозициями меняется на угол 6, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Аф0 на элементах рассеивателя и появления в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. [42]
Направление освещения между экспозициями меняется на угол 0, что вызывает регулярный фазовый сдвиг Дф0 на элементах рассеивателя и появление в изображении системы эквидистантных интерференционных полос. Так как состояние среды за время т между экспозициями изменится, уменьшится контраст полос. [43]
О, - объектив коллиматора; D -, - диафрагма с двумя отверстиями; 02 - объектив зрительной трубы; В3 - фокальная плоскость; О, - окуляр, в котором наблюдается система интерференционных полос. [44]
При работе со светом, отраженным от движущейся поверхности, смещение полос на величину d соответствует одному интерференционному биению, то есть, как и ранее, изменению скорости поверхности на величину Х / 2 At. Эволюция системы интерференционных полос в процессе измерений регистрируется электроннооптическим фотохронографом, работающим в режиме щелевой фоторазвертки. Из-за худших метрологических характеристик камер с ЭОП, их применение несколько увеличивает погрешность амплитудных измерений. [45]