Cтраница 1
Поляризационные системы также иногда используются как светоослабляющие. Две скрещенные поляризационные призмы позволяют изменять интенсивность света в широких пределах. При этом во всей области видимого спектра такая система может считаться вполне нейтрально серой. [1]
Однако поляризационная система может быть установлена внутри спектрального прибора. При этом следует иметь в виду, что спектральный прибор сам является поляризатором. Поляризация проходящих через спектральный прибор пучков возникает как результат отражения на поверхностях его оптической системы, а также и на щелях, в особенности, когда ширина щелей мала. Устранение нлп учет этих эффектов должен проводиться, сообразуясь с конкретными условиями измерений. [2]
Установив поляризационную систему на темноту в отсутствие поля, можно обнаружить при включении поля поворот плоскости поляризации, наблюдаемый и измеряемый обычными методами. [3]
![]() |
Схема установки при фотографическом методе измерения степени поляризации. [4] |
Фотоэлектрические поляриметры представляют собой соединения поляризационных систем с фотоэлектрическим фотометром, так как в основу их действия положены фотометрические свойства частично поляризованного света ( см. например, гл. Для определения степени поляризации необходимо определить интенсивности двух пучков линейно поляризованного света, что выполнить можно самыми разнообразными приемами ( см. § 5 гл. [5]
Рассмотрим теперь детально матричный метод расчета поляризационной системы. [6]
Затем создают диагональную ориентацию анизотропной среды относительно поляризационной системы. [7]
Поскольку сам перенос заряда происходит намного быстрее, чем ядерные движения ( согласно принципу Франка - Кондона), мы имеем здесь дело с неравновесными поляризационными системами. Перестройка ядерных конфигураций для перехода в состояние со свободной энергией активации ДО необходима для того, чтобы в процессе переноса заряда сохранялась энергия. [8]
![]() |
Схема фотографических измерений дисперсии оптической активности по точкам. [9] |
При отсутствии оптически активного тела К, которое, как всегда, располагается между поляризатором и анализатором, установленных параллельно, в спектре наблюдается нормальное распределение интенсивностей. Поляризационная система призм при этом остается неподвижной. [10]
Рассмотрим практические приемы измерения разности фаз компенсатором Сенармона. Прежде всего ориентируют элементы поляризационной системы: поляризатор, пластинку АУ4, анализатор. [11]
Теория интерференционных явлений и практика применения соответствующих устройств составляют важный и значительный по объему раздел прикладной физической оптики. На интерференционных принципах основано действие многих поляризационных систем и устройств. [12]
![]() |
Вертикальный осветитель к поляризационному микроскопу. [13] |
Прежде всего кристаллы исследуются в скрещенных поляризаторах в целях установления их оптической изотропии или анизотропии. В первом случае оптически изотропные кристаллы в скрещенной поляризационной системе всегда будут оставаться темными при любом положении столика микроскопа. При повороте анализатора на некоторый угол такие кристаллы будут постепенно просветляться в одинаковой степени по всему своему объему Во втором случае оптически анизотропные кристаллы даже при тщательно скрещенных поляризаторах всегда будут казаться it - той или иной степени светлыми и к тому же окрашенными. При повороте столика микроскопа на 360 каждый из анизотропных кристаллов в отличие от изотропных 4 раза светлеет и темнеет. [14]
Что касается степени деполяризации линий комбинационного рассеяния, то этот параметр, играющий большую роль при установлении структуры молекул, в молекулярном анализе с использованием спектров индивидуальных веществ имеет лишь второстепенное значение. Как уже упоминалось, различная степень поляризации линий может в некоторых условиях повести к изменению их относительных интенсивностей, так как спектрограф действует подобно поляризационной системе, отражая по преимуществу компоненты, колебания которых параллельны ребру призм. Этот эффект может проявиться особенно сильно при использовании спектрографа с большим числом цризм и соответственно этому с большим числом отражающих граней. [15]