Осветительная система

Cтраница 2

Схема хода лучей от источника S до фотоэлемента Ф через спектральный прибор. [16]

Осветительные системы к спектрографу выбираются в зависимости от избранного метода фотографической фотометрии. Применение ступенчатого ослабителя или ступенчатого вращающегося сектора требует безукоризненно равномерного освещения входной щели. Здесь следует воспользоваться установкой входной и выходной щелей в оптическом световом поле ( см. § 4 гл. При фотоэлектрической спектрофотометрии более выгодна установка щелей в естественном световом ноле, а светочувствительной поверхности приемника - в оптическом световом поле. Для этого за выходной щелью монохроматора следует установить коллимационную линзу ( как и перед входной щелью), с помощью которой в плоскость приемника проектируется изображение равномерно освещенной поверхности входного или выходного объектива коллиматора. В этих условиях обеспечивается равномерное освещение светочувствительной поверхности фотоэлемента, что практически важно, так как она по чувствительности не однородна, поэтому перемещение пучка по поверхности при наличии градиентов освещенности может приводить к фотометрическим ошибкам измерений. [17]

Осветительная система должна быть свободной от хроматических аберраций во избежание ошибок измерений, связанных с различной величиной увеличения избражения источника на щели, для различных длин волн. Это может привести к неполному заполнению коллиматоров и, следовательно, к искажению соотношения интенсивностей в спектре. [18]

Осветительная система к поляризационному микроскопу должна обеспечивать возможность применения как слабо сходящихся, так и сильно сходящихся световых пучков и регулирование апертуры в процессе работы. [19]

Осветительная система, состоящая из линзы Л с апертурными диафрагмами Д и Д2 и точечного источника света S, совмещенного с передним главным фокусом линзы Л; указанная система представляет собой автоколлиматор. [20]

Осветительные системы на НПЗ и НХЗ имеют разветвленную сеть с огромным числом осветительных точек и пусковой и защитной электроаппаратуры. Для поддержания нормальной работы необходимо регулярно ее проверять. [21]

Схема атомно-абсорбционного спектрофотометра С-112. [22]

Осветительная система построена по стандартной принципиальной схеме. Свет от ЛПК ( /) с помощью плоского зеркала 3 и коиденсорной линзы 4 направляется на секторный зеркальный модулятор 10, разделяющий его на основной луч и луч сравнения. Далее свет проходит через светоделитель 12 и посредством плоского зеркала 3 и зеркального объектива 2 направляется на входную щель монохроматора S. В канале сравнения свет направляется на светоделитель 12 системой, состоящей из двух плоских зеркал 3 и зеркального объектива 2, как это показано на схеме. Далее оба луча идут по одному каналу. [23]

Осветительные системы разрабатываются исходя из задач, которые должен решать спектральный прибор. При качественном анализе важно осветить щель наиболее чувствительным участком источника. Для количественного анализа необходимо получить равномерное освещение щели всеми точками источника. Осветительная система спектрографа должна давать возможность воспроизведения обоих способов освещения щели. Независимо от вида спектрального анализа осветительная система должна обеспечить максимальное использование разрешающей способности и светосилы прибора. Рассмотрим несколько схем освещения щели. [24]

Распределение интенсивности по контуру спектральной линии.| Схема освещения щели непосредственно источником света. [25]

Осветительные системы разрабатывают исходя из задач, которые должен решать спектральный прибор. При качественном анализе важно осветить щель наиболее чувствительным участком источника. [26]

Демпферные аналитические весы. [27]

Осветительная система питается током от сети через небольшой понижающий трансформатор. Корректировка нулевой точки у демпферных весов осуществляется путем перемещения указателя шкалы с помощью регулировочного винта вейтографа или регулировочными гайками коромысел. [28]

Оптическая схема трехлинзовой осветительной системы. [29]

Осветительные системы служат для правильного освещения источником света щели спектрального аппарата. Во многих случаях требуется получить равномерное распределение освещенности вдоль входной щели и вдоль спектральных линий в спектре. Такое освещение щели необходимо для методов количественного спектрального анализа, использующих ступенчатый ослабитель. В некоторых случаях для изучения распределения свечения элементов но облаку разряда используется резкое изображение источника на щели прибора. В этом случае отдельные участки облака дадут спектры, расположенные друг над другом. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5