Свежий скол

Cтраница 1

Свежий скол получают раскалыванием ( без ударов) по плоскостям спаянности кристаллита NaCl. Толщина образцов должна быть не менее 1 мм. [1]

На свежий скол образца напыляется угольная или платино-угольная пленка. После напыления образец помещают на поверхность слабого раствора НС1 и выдерживают до тех пор, пока он не станет прозрачным. Для растворения оставшегося слоя образец помещают на поверхность слабого раствора HF. Если сверху пленка не мокрая, то ее вылавливают на сетку и промывают в воде. [2]

Для выявления характера распределения битуминозных веществ в горной породе на свежий скол наносят каплю органического растворителя и наблюдают характер свечения проступивших битуминозных веществ. После чего породу измельчают и проводят экстракцию битуминозных веществ из навески 2 - 4 г последовательно хлороформом и спиртобензо-лом. Количество и состав экстракта определяют путем сравнения с эталонными коллекциями. [3]

Первый способ осуществляется при помощи цветных индикаторов, растворы которых наносят на свежий скол бетона и по изменению его окраски устанавливают приблизительное значение рН, а также фиксируют границу его изменения, связанную обычно с карбонизацией. [4]

Схема прибора ПМТ-3. / - станина. 2-столик. 3-стойка. [5]

Точность измерения диагонали отпечатка при различных нагрузках рекомендуется проверять путем испытания микротвердости свежего скола кристалла каменной соли. Отпечаток должен быть правильной квадратной формы с четкими прямыми углами, без рванин и скруглений, диагональ отпечатка не должна иметь раздвоений и искривлений. [6]

Представлены результаты исследований структурных свойств тонких пленок арсенида кадмия CdaAs2, полученных вакуумным испарением на свежих сколах слюдяных подложек, в зависимости от условий получения пленок, и прежде всего от температуры подложки во время испарения и скорости осаждения конденсата. [7]

Структура стекол, спеков и пеностекла исследовалась с помощью электронного микроскопа УЭМВ-ЮОА методом плати-ноугольной реплики [188] с травлением поверхности свежего скола образцов или стенки ячейки пеностекла 2 % HF. [8]

Исследовано влияние скорости осаждения и температуры подложки на процессы роста и микроструктуру тонких слоев арсенида кадмия, полученных вакуумным испарением, на свежих сколах слюдяных подложек в широком диапазоне скоростей испарения 8 - 2600 А / о и температур подложек 20 - 200 С. [9]

Положения максимумов интенсивности для аморфного Ni, Ge, I256 ]. [10]

Исследование ближнего порядка методом Э в аморфных пленка FesGe3, Co5Ge3 и NisGe3 [256] для получения информации о структуре и выяснения, в какой степени состав аморфных пленок связан с кристаллической структурой твердой фазы, было предпринято в 1975 г. Препараты тонких пленок германидов осаждались на свежий скол каменной соли: 1) электронной бомбардировкой компонент сплава в вакууме, 2) ионной бомбардировкой сплава в атмосфере аргона, 3) нагреванием в вакууме. [11]

При соприкосновении углеродных электродов и подаче тока силой до 100 А в течение 5 - 15 с на образце 1 образуется тонкий слой углерода - пленка-подложка. Обычно углерод осаждают на свежий скол, например, галита или слюды. [12]

Влияние времени выдержки индентора под нагрузкой на микротвердость. [13]

Специальные эксперименты показали, что включение насосов установки и более удаленных машин существенного влияния на величину микротвердости не оказывают. Средний размер диагоналей отпечатков, нанесенных на свежий скол каменной соли, колеблется в пределах 0 15 %, что вполне допустимо. [14]

Определение типа и концентрации дефектов кристаллической решетки, выходящих на поверхность кристаллов, производится главным образом методом электронной микроскопии. Для выявления дефектов применяется химическое или ионное травление свежих сколов кристаллов, позволяющее охарактеризовать своеобразные структуры минералов, однако интерпретация полученных результатов чрезвычайно затруднена из-за неопределенной кристаллографической ориентации граней кристалла. Кроме того, возникают трудности, связанные с получением качественных реплик с поверхности пористых образцов. Несомненно, что исследование минералов при использовании просвечивающих электронных микроскопов позволило бы получить больший объем информации о дефектности структуры минералов, если бы было возможно без особых затруднений приготавливать для анализа образцы требуемой толщины. [15]

Страницы: 1 2 3