Тонкий слой

Cтраница 2

Тонкие слои уже давно привлекали внимание ученых, в том числе Ньютона, Фарадея, Плато, Максвелла, Гиб-бса, Перрена. [16]

Тонкие слои, возникающие в дисперсных системах - пенах, эмульсиях, суспензиях и при контакте пузырьков с твердой поверхностью и представляющие важнейший их структурный элемент, в подавляющем большинстве случаев микроскопичны и субмикроскопичны, а простое масштабное перенесение результатов с больших на малые пленки едва ли в настоящее время можно применять главным образом из-за гидродинамических осложнений. [17]

Тонкие слои входят все прочнее в физическую химию поверхностей и микрогетерогенных дисперсных систем. Во всех международных научных встречах последних лет им уделяется много места. Это внимание, несмотря на все еще ограниченные результаты исследований в этой области и на небольшое еще число ученых, занятых ими, вполне оправдано. [18]

Тонкие слои уже давно привлекали внимание ученых, в том числе Ньютона, Фарадея, Плато, Максвелла, Гиб-бса, Перрена. [19]

Тонкие слои входят все прочнее в физическую химию поверхностей и ми-крогетерогешшх дисперсных систем. Во всех международных научных встречах последних лет им уделяется много места. Это внимание, несмотря на все еще ограниченные результаты исследований в этой области и на небольшое еще число ученых, занятых ими, вполне оправдано. [21]

Температурный профиль атмосферы и связанное с ним.| Диаграмма процентного содержания различных компонент в атмосфере, основанная на недавних измерениях с помощью ракет. Для того чтобы определить относительную концентрацию газов, составляющих атмосферу Nj, Os, О, А ( т. е. Оз и Не на любой высоте, достаточно провести горизонтальную линию на этой высоте, при этом отрезки, образующиеся при пересечении этой прямой с кривыми, изображенными сплошными линиями будут соответствовать относительной концентрации. Например, на высоте 200 км в атмосфере содержится 0 47 N2 и 0 53 О. Кривые, изображенные пунктиром, представляют средние молекулярные веса как функцию высоты. их абсциссы следует читать на нижней стороне диаграммы. Кривая М построена на основании результатов недавних исследований с помощью ракет и соответствует диаграмме процентного содержания компонент, изображенной сплошными линиями. Кривая М США, 62 Дается согласно Стандартной атмосфере США, 1962 г., для которой не была опубликована диаграмма процентного содержания компонент.| Профиль плотности согласно Стандартной атмосфере. [22]

Тонкий слой в верхней части каждой области, где параметры последней претерпевают изменения при переходе в следующую область, приобретает в названии окончание пауза, например: тропопауза. [23]

Тонкий слой не должен стягиваться с краев и собираться в капли. [24]

Тонкие слои, например, целлюлозы удерживают больше ТБФ, чем силикагель, и, таким образом, удерживающая способность целлюлозы выше. [25]

Тонкие слои окислов Си2О и СиО растворимы в канифоли. [26]

Тонкий слой на поверхности может быть создан путем наложения электрического поля. [27]

Тонкий слой этих составов наносят при помощи ватного тампона, дают подсохнуть в течение получаса, а затем растирают легкими кругообразными движениями мягкой тряпкой. [28]

Тонкий слой такой эмульсии наносится на подложку из стекла или пленку. [29]

Тонкий слой 4 с проводимостью типа п, образующийся на поверхности полупроводника типа р, называется инверсионным. Этот слой образует проводящий канал между истоком и стоком. При изменении напряжения на затворе изменяется толщина инверсионного слоя, проводимость канала и ток в цепи стока. [30]

Страницы: 1 2 3 4