Случай - дефект
Cтраница 2
В случае большого дефекта ( кривые д, е на рис. 13) замедления темпа роста суммарной АЭ не наблюдается. Число импульсов АЭ ускоренно увеличивается с момента приложения нагрузки до полного разрушения объекта. [16]
В случае дефектов сети или ошибок в алгоритме маршрутизации отдельные пакеты могут начать бесконечную циркуляцию. [17]
 |
Случай расположения дефекта продолговатой. [18] |
В случае узкого дефекта, расположенного вдоль распространения ультразвуковых волн ( рис. 3 - 20 а), отражения их может и не быть и дефект совсем может быть не отмечен, хотя по длине он будет иметь значительные размеры. [19]
В случае дефекта замыкающего контакта реле РТО ( 101 - 99) ( не функционирует или отогнут электромехаником) требуется проверка регулировки всех дверей шахты лифта. Работа замыкающего контакта реле РТО ( 101 - 99) должна быть немедленно восстановлена, так как он частично выполняет диагностические функции состояния регулировки дверей шахты. [20]
 |
Мнимые дефекты, наблюдаемые при магнитопорошковом контроле в результате осаждения порошка. [21] |
Рассмотрим некоторые случаи мнимых дефектов и рекомендации по расшифровке их индикаторных рисунков. [22]
Перечисленные выше случаи дефектов крепления уплот-нительных колец бесфланцевой арматуры, несомненно, носят временный характер и могут быть устранены путем улучшения конструкции крепления. [23]
Поскольку в случае дефекта материала известно время начала эксплуатации детали с дефектом материала и число полетных циклов нагружения вала, то естественно провести анализ регулярности появления усталостных линий в изломе вала и обосновать правомерность оценки по ним длительности роста трещин в полетах. [24]
Как и в случае обычных дефектов в твердых телах, для наномате-риалов различают нульмерные, одномерные, двухмерные и трехмерные дефекты - соответственно вакансии и межузельные атомы, дислокации, поверхности раздела, полости и нанопоры. В квантовых малоразмерных структурах анализируют соответственно квантовые точки, ямы, проволоки, стенки и другие дефекты, что будет описано в гл. [25]
Именно возможность гред-ставления в случае дисклинационных дефектов работы Аш г - иде ( 4.10 а) и приводит к необходимости анализа и учета моментов YV. Соотношение, в которое входит М, приме мо к чистым дисклинационным дефектам типа одноосного дисклп ] юн-ного диполя или петли. [26]
Например, вследствие обнаружения нами нескольких случаев дефектов в сборке делителей1 машин ( главной части диффузионной машины) мы вынуждены были организовать сплошную1 проверку всех делителей. [27]
К замене заклепок приходится прибегать в случаях дефектов клепки или разъединения склепанных деталей. [28]
 |
Схема проверки на экспо. [29] |
Проверяется исправность диода Л2, который в случае дефекта заменяется на специально отобранный диод 2Д1С из придаваемого к прибору запасного комплекта. Отбор диодов 2Д1С для работы в измерительной головке прибора ВЗ-9 включает два этапа: 1) проверку диода на возможность установки накала; 2) проверку на экспоненциаль-ность вольт-амперной характеристики. [30]
Страницы: 1 2 3 4