Смещение - источник
Cтраница 2
 |
Схема просвечивания для определения глубины залегания дефекта с перемещением источника излучения. [16] |
Глубину залегания дефекта находят, просвечивая изделия со смещением источника излучения. [17]
Глубину залегания дефекта в изделии определяют методом двойного просвечивания со смещением источника излучения и применением свинцовых меток. [18]
Форма электродов влияет на величину блуждания дуги по их поверхности, что равносильно смещению источника ( электродов) с оптической оси, на размеры и температуру плазмы разряда, характер поступления в аналитический промежуток вещества электродов и пр. [19]
 |
Оптическая схема двухканального осветителя к фотоэлектрической установке с двумя спектральными аппаратами, направленными на общий источник. [20] |
Если спектральные аппараты установки смотрят на источник под углом друг к другу, то смещение источника из вершины угла может привести к ослаблению каждого из спектров в той или иной мере. [21]
Диски расположены так, что один из них дает возможность выделять сигнал, соответствующий смещению источника излучения по оси х, а другой - по оси у. Каждый диск разделен на четыре сектора, два из которых имеют окна, а два других - прозрачны. Диски модулируют поток поочередно. При расположении источника излучения на оптической оси системы изображение источника попадает между рядами окон дисков и поэтому поток излучения не проходит к приемнику. При смещении источника излучения по какой-либо оси его изображение в плоскости дисков смещается и попадает на рад окон соответствующего диска. [22]
При этом все последующие результаты о погрешности методов будут справедливы с точностью до величин порядка смещения источника. [23]
Иногда вместо источника проще передвинуть исследуемый объект, при этом смещение теней дает такую же перспективу, как и при смещении источника. Работа с закрепленным источником позволяет использовать более узкий пучок. [24]
Конструкция радиоизотопных дефектоскопов должна обеспечи-ать радиационную безопасность при пожаре, для чего легкоплав-ие защитные материалы должны заключаться в кожухи из туго-лавких материалов, исключающих возможность выплавления ма-ериала защиты или смещения источника из положения хране-ия. [25]
Для соединений металлов, не имеющих на диаграмме плавкости точки перегиба ( например Ti Nb), характер расслоения в шве ( расположение слоев: 80 - 90 % Nb у Nb и 30 - 40 % Nb в шве) определяется объемом ванны, турбулентными потоками в ней и зависит от энергии, определяющей значение Т2 ( см. рис. 2, а), и смещения источника ( Д) наблюдается на всех режимах пайки Следует отметить, что вследствие неравновесности протекающих процессов, обусловленных большими скоростями протекающих процессов, не всегда правомерно использовать равновесную диаграмму состояния. В неравновесной диаграмме линия ликвидус сдвигается в сторону линии солидус. Полученные пайкой соединения циркония и титана с ниобием обладают высокими механическими свойствами [4], что обусловлено отсутствием в шве хрупких химических соединений и эвтектик. [26]
 |
Зависимость от длины волны расстояний, жг и зс3 для неахро-матизованного кварцевого конденсора спектрографа К-24.| Освещение щели растровым конденсором. [27] |
Последний оказывается заполненным светом, причем на все его участки падает свет от всех участков источника. Если величина смещений источника при его блуждании сравнима с размерами самого источника, то эти перемещения практически не сказываются на условиях освещения прибора. [28]
Это обстоятельство связано с неконтролируемыми смещениями источника света с оптической оси спектрального аппарата, с подобными же изменениями времени обжига ( или обыскривания) и регистрации спектрограмм, а также с нестандартностью свойств и режима работы приемников излуче-гая. [29]
Для всех эффектов, о которых здесь пойдет речь, характерно то, что они связаны с движением источника. Мы не будем больше предполагать, что смещение источника незначительно и его движение происходит с относительно малой скоростью возле фиксированной точки. [30]
Страницы: 1 2 3 4