Смещение - образец
Cтраница 1
 |
Схема весов Фарадея-Сексмита ( о. профиль магнитных полюсов N и S а распределение градиента магнитного поля dff / dx ( б. ЭМ - электромагнит для поднятия груза. [1] |
Смещение образца при включении неоднородного поля приводит к упругой деформации кольца, в результате чего зеркала Мг и М2 поворачиваются относительно первоначального положения. Луч света, проходящий через оба зеркала, изменяет свой ход и на световом экране зайчик от него смещается. Величина смещения зайчика пропорциональна силе, деформировавшей кольцо. [2]
Повертывают предметный столик до правого упора, не допуская удара во избежание смещения образца, и производят измерение диагоналей отпечатка. [3]
 |
Зависимость силы. [4] |
При больших же нормальных нагрузках получить значение переходной силы трения, соответствующей началу смещения образца, невозможно, так как при любых тангенциальных силах наблюдается скольжение образца. Характер кривых зависит также от времени неподвижного контакта. [5]
 |
Пресс типа ТШ. [6] |
Шпиндель 5 опирается на пружину 7, осуществляющую предварительное нагружение до 100 кг для предотвращения смещения образца во время испытания. [7]
Однако при магнитах с недостаточной однородностью поля приходится использовать модель весов с рейтером, чтобы уменьшить смещения образца. Образец подвешивается обычно на гибкой найлоновой нити или на очень тонкой медной нити, заменяющей левую чашку весов. Для этого необходимо иметь небольшое отверстие диаметром 1 - 2 мм и устранить с этой стороны арретирующий механизм. Нить от подвеса и образец заключают в стеклянную или перспексовую трубку, продолжающуюся до ящика весов. Эта трубка препятствует тяге воздуха, которая могла бы помешать измерениям. [8]
Если г 25 мм, D100 см, то линейное смещение по шкале примерно в 150 раз больше смещения образца. [9]
При непосредственном наблюдении дислокаций в микроскопе возникают также трудности, связанные со значительным изменением дифракционного контраста в зернах в результате смещения образца, а также развития ЗГП. [10]
Нижняя опорная плита установлена на полусферической стальной подкладке в целях предохранения образца от дополнительных напряжений, могущих возникнуть в процессе испытания вследствие смещения образца по отношению к вертикальной оси пресса или вследствие перекоса. [11]
В случае фотоэлектрической регистрации счетчик служит для получения количественных характеристик несовершенства монокристалла по зависимости интенсивности дифрагированного излучения от угла поворота или от смещения образца. [12]
В головке прибора установлена пружина 9, опирающаяся на шпиндель 10, для приложения к образцу предварительной нагрузки в 100 кгс ( 9 81), чтобы предотвратить возможность смещения образца во время испытания. При поднятии образца к наконечнику втулка снимается с конуса и шпиндель без трения вдавливает шарик в испытуемую поверхность. [13]
 |
Влияние эксцентриситета на смещение дифракционных конусов в камере Дебая. [14] |
Эксцентриситет образца возможен, если ось вращения образца не совпадает с осью цилиндра, образуемого пленкой. Смещение образца от оси цилиндра можно представить как сумму смещений в двух направлениях - вдоль пучка рентгеновских лучей и перпендикулярно ему. Небольшие смещения перпендикулярно пучку не вызывают заметного изменения 6 ( рис. 45), смещения вдоль пучка вызывают либо увеличение, либо уменьшение всех углов Э ( точнее-соответствующих им дут), так как углы 6 перестанут быть центральными. [15]
Страницы: 1 2 3