Cтраница 1
Смещение интерференционных полос в некоторой точке поля интерференции пропорционально среднему значению показателя преломления на том отрезке, который световой луч проходит в облаке плазмы разряда. Например, при изучении течения плазмы вблизи препятствий необходимо на интерферограмме получить четкое изображение интерференционных полос и препятствия. В этих случаях следует применять интерферометры, в которых поверхность локализации интерференционной картины может быть совмещена с исследуемым сечением объекта. [1]
![]() |
Схема лабораторного интерферометра. [2] |
Смещение интерференционных полос, при прочих равных условиях, прямо пропорционально оптической плотности газа и процентному содержанию в нем определяемого компонента. [3]
Если смещение интерференционных полос у очень велико, нулевая полоса может выйти за пределы центрального дифракционного максимума. В этом случае измерения оказываются практически невыполнимыми. Для оценки ( An) max примем, что максимально допустимое смещение утах равно полуширине центрального дифракционного максимума. [4]
Величина смещения интерференционных полос на поверхности плитки относительно полос на кварцевой пластине выражает дробную долю общего количества длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. [5]
Зависимость смещения интерференционной полосы от давления р внутри камеры многолучевого интерферометра широко используются для определения дробной части порядка интерференции. [6]
Величина смещения интерференционных полос на поверхности плитки относительно полос на стеклянной пластине выражает дробную долю общего количества длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. [7]
Величина смещения интерференционных полос на поверхности плитки относительно полос на стеклянной пластине выражает дробную долю обшего количества длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. [8]
Величина смещения интерференционных полос на поверхности плитки относительно полос на кварцевой пластине выражает дробную долю общего коли чества длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. Для определения полного ( целого и дробного) количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, поступают следующим образом. Затем на интерферометре определяют дробные доли длин полуволн не менее чем для трех линий спектра. [9]
Она дает смещение интерференционных полос на р долей интервала. [10]
![]() |
Схема интерферометра Релея. [11] |
Для измерения смещения интерференционных полос используют интерферометры. Ход лучей в интерферометре Релея представлен на рис. 33.5. Свет от лампы накаливания / проходит через конденсорную линзу 2, щели коллиматора 3 и попадает на кюветы 4 с растворителем и раствором вещества. Причем через кюветы проходит верхняя половина пучка света, а нижняя часть света минует кюветы и поступает в зрительную трубку, где на матовом экране 5 образует нижнюю неподвижную систему интерференционных полос. [12]
При определении смещения интерференционных полос наиболее сложным является нахождение середины полосы. Приборы для точного определения смещения полосы основаны на принципе нахождения максимума интерференционного контура путем фотоэлектрической записи кривой распределении интенсивности. [13]
Перемещение зеркальца вызывает смещение интерференционных полос в поле зрения микроскопа, которое измеряется при помощи окулярного микрометра. Для измерения магнитострикции используют интерференционную картину, получаемую от белого света. Градуировка окулярного микрометра производится при монохроматическом свете. Чувствительность этой установки составляет 2 7 - Ю-5 мм. [14]
На опыте обнаруживается смещение интерференционных полос в зависимости от скорости потока v, что соответствует частичному увлечению эфира водой. [15]