Смещение - решетка
Cтраница 2
Областями, в которых содержится информация о положении решетки, являются области перекрытия нулевого и первых порядков дифракции, где они интерферируют между собой. Согласно (2.6) разность фаз между нулевым и высшими порядками линейно зависит от и - смещения решетки. [16]
Пока взаимное смещение и ( рис. 116, б), возрастая, остается меньше половины расстояния между атомами ( а / 2), силы взаимодействия между ними препятствуют сдвигу. Как только это смещение превысит расстояние а / 2, силы взаимодействия начинают способствовать смещению решетки в новое устойчивое положение равновесия. Наименьшая пластическая деформация соответствует смещению на а. В результате таких смещений каждый предыдущий атом занимает место последующего, все атомы оказываются на местах, присущих данной кристаллической решетке. Кристалл сохраняет свои свойства, меняя лишь конфигурацию. [17]
Контраст, получающийся от кристаллических дефектов, находят с помощью колонкового приближения, как было описано в гл. Чтобы проследить влияние полей деформации или локальных нарушений на интенсивности, мы подставляем в уравнения (10.32), (10.33) или ( в n - волновом случае) в уравнение (10.35) последовательные изменения смещений решетки в каждой колонке. [18]
Результатом нелокальности отклика является не только ограниченная разрешающая способность фоторефрактивных сред, но и в ряде случаев смещение решетки показателя преломления относительно интерференционной картины записывающего света. На это уже была обращено внимание в разделе 2.1 при рассмотрении диффузионного механизма записи. Смещение решетки приводит к весьма интересному результату - так называемому энергообмену. [19]
С помощью автоматически переключающегося шагового коммутатора ток в обмотке электромагнитного механизма изменяется. Изменение юка влечет за собой изменение магнитного потока в зазоре электромагнитной системы механизма 11, о, следовательно, изменение положения якоря с индикаторной решеткой. При смещении индикаторной решетки к нулевому положению напряжение демодулятора обращается в нуль. При этом срабатывают нуль-органы и шаговые коммутаторы останавливаются. [20]
Положения измерительной решетки, при которых на выходе демодулятора напряжение отсутствует, принимаются за нулевые, в результате чего образуется шкала нулевых положений перемещающихся частей прибора или станка. В точной ступени нулевые положения расположены на расстоянии шага измерительной решетки, равного 0 1 мм. Доля этого расстояния определяется путем смещения индикаторной решетки к нулевому положению и измерения этого смещения. Эти операции ( смещение и измерение) производятся следующим образом. С помощью автоматически переключающихся шаговых коммутаторов ток в обмотках электромагнитного механизма изменяется. Изменение тока влечет за собой изменение магнитного потока в зазоре электромагнитной системы механизма ЭМ, а следовательно, изменение положения якоря Я с индикаторной решеткой. При смещении индикаторной решетки к нулевому положению напряжение демодулятора обращается в нуль. При этом срабатывают нуль-органы и шаговые коммутаторы останавливаются. [21]
 |
Оптическая схема сисама, построенного на базе интерферометра Майкельсона. [22] |
Оптические схемы могут быть видоизменены за счет применения других оптических элементов. В этой решетке, работающей при нормальном падении лучей, используются спектры положительных и отрицательных порядков дифракции. Сканирование спектра осуществляется одновременным поворотом обоих зеркал в разные стороны и смещением решетки по нормали. Одно из зеркал ( правое) кроме вращательного движения совершает одновременно и поступательное ( вдоль нормали к своей поверхности), модулируя световой поток. Это значительно усложняет конструкцию, вследствие чего была предложена схема [45.3] ( рис. 45.2, б), в которой для модуляции введено дополнительное зеркало, что упростило также и повороты решеток, которые нужно производить теперь в одну сторону. [23]
Границы зерен, разориентированных под небольшим ( в несколько градусов) углом, наиболее доступны для проведения исследования. Граница зерен, разориентированных под малым углом, показана на рис. 35; из этого рисунка также видно, что граница зерен состоит из серии краевых дислокаций. Для границы блоков такого типа вычислена межфазная энергия; межфазные напряжения объясняются главным образом упругим смещением кристаллической решетки вблизи границы зерен, причем смещение решетки имеет место с обеих сторон границы. Вокруг каждой дислокации всегда имеется поле упругих напряжений, и общее поле для всей границы зерен представляет собой сумму полей ряда дислокаций. Результаты таких расчетов хорошо согласуются с экспериментальными данными. [24]
 |
Объемно-центрированная ( а, гранецентрированная ( б и базоцент.| Решетка с базисом. [25] |
В качестве примера на рис. 1.8, а показана двумерная решетка общего типа. Легко видеть, что при построении такой решетки с помощью вектора трансляции ее ячейка не может быть выбрана одноатомной. Смещение решеток друг относительно друга описывается дополнительным вектором А, называемым базисным. Число таких векторов в общем случае может быть каким угодно. [26]
В качестве примера на рис. 4.5 показана двумерная решетка общего типа. Легко видеть, что элементарная ячейка этой решетки никаким способом не может быть выбрана одноузельной. Такую решетку можно представить в виде двух вставленных друг в друга решеток Бравэ, каждая из которых определяется трансляционными векторами айв. Смещение решеток друг относительно друга описывается дополнительным вектором А, называемым базисным. Число таких векторов в общем случае может быть каким угодно. [27]
В последние несколько лет для определения поверхности Ферми стали использоваться магнитоакустические явления, в частности геометрический резонанс 1), Такие измерения особенно полезны потому, что они дают значение k / для данного направления в k - пространстве, тогда как другими методами этот параметр непосредственно определить нельзя. Вместе с эффектом де Гааза - ван Альфена эти эффекты могут быть использованы для построения поверхности Ферми. Магнитоакустические методы используют тот факт, что при возмущении решетки звуковой волной происходит деформация зоны Бриллюэна, а также поверхности Ферми. Поэтому изменяется также и распределение заполненных электронных состояний. Однако, когда решетка возвращается обратно в невозмущенное состояние, электроны могут прийти в равновесие с этим состоянием только в результате столкновений. Если время релаксации велико ( длина свободного пробега I сравнима с длиной звуковой волны), то электроны не успевают прийти в равновесие раньше, чем произойдет следующее смещение решетки в данной точке. Таким образом, электроны смещаются относительно ионов решетки, нарушается зарядовая нейтральность и возникают градиенты электрического поля. [28]
Такие измерения особенно полезны потому, что они дают значение k / для данного направления в k - пространстве, тогда как другими методами этот параметр непосредственно определить нельзя. Вместе с эффектом де Гааза - ван Альфена эти эффекты могут быть использованы для построения поверхности Ферми. Магнитоакустические методы используют тот факт, что при возмущении решетки звуковой волной происходит деформация зоны Бриллюэна, а также поверхности Ферми. Поэтому изменяется также и распределение заполненных электронных состояний. Однако, когда решетка возвращается обратно в невозмущенное состояние, электроны могут прийти в равновесие с этим состоянием только в результате столкновений. Если время релаксации велико ( длина свободного пробега / сравнима с длиной звуковой волны), то электроны не успевают прийти в равновесие раньше, чем произойдет следующее смещение решетки в данной точке. Таким образом, электроны смещаются относительно ионов решетки, нарушается зарядовая нейтральность и возникают градиенты электрического поля. [29]
Положения измерительной решетки, при которых на выходе демодулятора напряжение отсутствует, принимаются за нулевые, в результате чего образуется шкала нулевых положений перемещающихся частей прибора или станка. В точной ступени нулевые положения расположены на расстоянии шага измерительной решетки, равного 0 1 мм. Доля этого расстояния определяется путем смещения индикаторной решетки к нулевому положению и измерения этого смещения. Эти операции ( смещение и измерение) производятся следующим образом. С помощью автоматически переключающихся шаговых коммутаторов ток в обмотках электромагнитного механизма изменяется. Изменение тока влечет за собой изменение магнитного потока в зазоре электромагнитной системы механизма ЭМ, а следовательно, изменение положения якоря Я с индикаторной решеткой. При смещении индикаторной решетки к нулевому положению напряжение демодулятора обращается в нуль. При этом срабатывают нуль-органы и шаговые коммутаторы останавливаются. [30]
Страницы: 1 2 3