Малое смещение
Cтраница 3
 |
Смещение электрода с зенита при автоматической сварке ( стрелкой показано направление вращения трубы. [31] |
При наложении первого слоя слишком малое смещение приводит к прожогам, а слишком большое смещение - к непроварам корня шва и появлению в наплавленном металле шлаковых включений. Кроме того, чрезмерное смещение вызывает отекание металла. [32]
В частных случаях это дополнительное малое смещение da, dcpa может быть обусловлено лишь одним из перечисленных факторов. [33]
 |
Смещение электрода с зенита при автоматической сварке ( стрелкой показано направление вращения трубы. [34] |
При наложении первого слоя слишком малое смещение приводит к прожогам, а слишком большое смещение - к непроварам корня шва и появлению в наплавленном металле шлаковых включений. Кроме того, чрезмерное смещение вызывает стекание металла. [35]
Эта формула справедлива для малых смещений, когда скорость движения невелика. [36]
 |
Плоская модель двухатомного кристалла и элементы ее точечной симметрии ( а. понижение симметрии в результате относительного сдвига подрешеток и элементы точечной симметрии искаженной фазы ( б. [37] |
После такого сколь угодно малого смещения группа симметрии нашей модели, помимо трансляций, будет содержать только два элемента Е и т - диагональную плоскость симметрии. [38]
Убедитесь, что при малых смещениях зависимость приращения потенциальной энергии от х квадратичная. [39]
To, что при малых смещениях х это так, нетрудно показать на примере обсужденной водородоподоб-ной модели атома. [40]
 |
Семейство амплитудных характеристик генератора при различных напряжениях смещения сетки.| Амплитудные характеристики и линии рав - Hoii мощности ( изолоны lOd - киловатшой генераторной лампы. [41] |
Как видно, при малом Смещении ( при большом со, режим А) крутизна статической характеристики велика, особенно при малых амплитудах; соответственно велика и начальная крутизна амплитудной ( колебательной) характеристики. При дальнейшем увеличении смещения начальный участок амплитудной характеристики идет вдоль горизонтальной оси, что соответствует режиму С. Наклон амплитудных характеристик при больших амплитудах определяется средней крутианой лампы. В этом случае крутизна статической характеристики лампы в рабочей точке примерно равна средней крутизне. [42]
Предполагают, что при малых смещениях / и2, при больших / я и, но линия сдвинута на расстояние, зависящее от нелинейности в переходной области. [43]
Предполагают, что при малых смещениях / и, при больших / f и, но линия сдвинута на расстояние, зависящее от нелинейности в переходной области. [44]
Как уже упоминалось ранее, малые смещения представляют интерес для голографической интерферометрии: уже сейчас можно предположить, что смещение оптических элементов схемы в дальнейшем будет объединяться со смещением из-за механических деформаций. [45]
Страницы: 1 2 3 4