Cтраница 2
Внедрение инструментальных методов количественного анализа по времени совпало ( по-видимому, во многом даже явилось причиной) с началом взаимопроникновения ранее разобщенных систем метрологического обеспечения, используемых в области измерений химического состава и в других видах измерений. Характерное для последнего времени широкое использование общеметрологических принципов и понятий ( прежде всего для решения практических задач заводских лабораторий) находит отражение в расширении функций СО и их роли в оценке метрологических свойств методик выполнения измерений, а также при оперативном и статистическом контроле точности рабочих измерений и решении других проблем достижения требуемой точности измерений химического состава. [16]
Способы оценки по экспериментальным данным средних квадрати-ческих отклонений, характеризующих случайную погрешность измерений химического состава, с использованием методов математической статистики достаточно просты, неоднократно излагались в литературе [25] и для аналитического контроля остаются теми же, что и для других видов измерений. [17]
К лабораторным весам относятся приборы, служащие непосредственно для измерения массы тел, а также приборы, работающие на принципе измерения массы и предназначенные для контроля и управления производственными процессами, определения плотности тел, исследования процессов сорбции и сушки или других видов измерений. [18]
К весам относят разнообразные приборы, служащие непосредственно для измерения массы тел, а также приборы, работающие на принципе измерения массы и предназначенные для контроля и управления потоком сыпучих или жидких материалов, определения плотности, исследования процессов сорбции и сушки или других видов измерений. [19]
Благодаря широкому внедрению микропроцессоров в ЦИП происходит органическое слияние измерений и вычислений, при этом используются все более сложные алгоритмы цифровой обработки мгновенных значений сигналов; управление ЦИП полностью передается микропроцессору; повышается точность измерения благодаря введению поправок и коррекций с помощью микропроцессоров; повышается многофункциональность ЦИП; решаются все более сложные измерительные задачи - косвенных, совокупных и других видов измерений, а также измерений параметров зависимостей; повышается надежность ЦИП на основе использования режимов самоповерок и самоконтроля. [20]
Для предотвращения шунтирования индикатора выпрямительными диодами Д [ и Д2 во время измерения постоянного напряжения коммутация прибора выполнена таким образом, чтобы диоды подключались только в период измерения переменных напряжения и тока. При всех других видах измерений детекторная система отключена от цепи измерителя. [21]
![]() |
Схема моста постоянного тока с реохордом.| Схема ампервольтомметра. [22] |
Положение 2 используется при измерении постоянных токов и напряжений. Схема многопредельного миллиамперметра выполнена с универсальным шунтом, который остается включенным и при всех других видах измерений. [23]
Возможно, однако, приравнивание v к г для другого характерного закона, в частности закона равномерной плотности. Такое конкретное условие идентификации ( распознавания и установления) нормальных условий может быть аналогично сформулировано и для других видов измерений. Динамическое воздействие внешних влияющих величин Vj ( xt) и искажение выходного сигнала y ( t) функционально связаны через частотную характеристику ф ( ш) измерительной системы, включающей средства и объект измерения. [24]
Основой технической базы МО являются средства измерений и контроля. Техническая база МО строится на эталонной базе РФ, которая состоит из более 150 государственных первичных и специальных эталонов, 60 вторичных ( рабочих) эталонов, обеспечивающих хранение и воспроизведение 70 физических величин в линейно-угловых, механических, температурных, теплофизических, электрических, магнитных, радиотехнических, оптических и других видах измерений, в различных амплитудных, частотных и динамических диапазонах. [25]
Каждый раз перед измерением сопротивления прибор следует откорректировать. Для этого его включают по схеме омметра, замыкают щупы и ручкой установки нуля омметра подводят стрелку к нулю шкалы. По окончании измерения сопротивления прибор следует переключить на другой вид измерений. [26]
Все приборы, используемые для измерений, вносят ( вследствие их ограниченной точности) определенные погрешности в результаты измерений. Однако погрешности СИ, как правило, довольно четко ограничены пределами, указанными в соответствующей документации, что освобождает экспериментаторов ( за исключением контроля методики измерения аналитических сигналов) от необходимости их оценивания и анализа. В этом отношении прямые измерения промежуточных аналитических сигналов аналогичны другим видам измерений. [27]
МСС некоторых машиностроительных заводов выписывают массовые первичные документы при помощи табулятора. Указанный способ выписки первичных документов нельзя признать экономически целесообразным, так как в документы переносят не данные, полученные в результате непосредственного подсчета или другого вида измерения, а лишь постоянные исходные данные нормативно-оценочных перфокарт. Кроме того, как описано выше, реквизиты нормативно-оценочных карт можно переносить непосредственно в разовые перфокарты, минуя первичные документы, что более эффективно. Наконец, в этом случае переносят сведения в первичные документы с помощью высокопроизводительных и дорогостоящих вычислительных машин ( табуляторов), которые по существу используются в качестве автоматических пишущих машинок. [28]
В основе этой методологии лежит определение погрешности как разности между результатом измерений и действительным значением физической величины. Систематические погрешности, остающиеся постоянными или закономерно меняющиеся при повторных наблюдениях, при; нято подразделять на методические и инструментальные. Методические погрешности обусловлены недостаточной проработанностью закономерностей формирования измерительной информа-ци, а инструментальные возникают из-за изменения характеристик этих средств под воздействием внешних факторов. Указанные составляющие погрешности выделяют для прямых, косвенных и других видов измерений. [29]