Cтраница 2
Пределы допускаемых значений относительной погрешности образцовых средств измерений при поверке счетчиков методом ваттметра и секундомера для соотношения погрешностей образцовых и поверяемых средств 1: 4 приведены в табл. I, для соотношения погрешностей 1: 3 - в табл. 4 для токов нагрузки от 20 % номинального значения до максимального значения включительно. [16]
Установить заранее значения Ln и е часто бывает невозможно, так как об отклике до начала опытов ничего неизвестно. Предельное же значение Ln зависит от соотношения погрешности эксперимента и скорости изменения отклика вблизи экстремума. [17]
При современном состоянии развития измерительной техники получена реальная возможность обеспечить при поверке приборов ь области радиоизмерений - десятикратное, электроизмерений - пятикратное и измерений давления - четырехкратное соотношение погрешностей образцовых и поверяемых приборов. Возможен и дальнейший рост требований к соотношению погрешностей образцовых и поверяемых приборов, но не до бесконечности, так как должно сохраняться разумное равновесие между материальными затратами на разработку и изготовление образцовых приборов и достаточной для данного этапа развития техники точностью измерений. [18]
Точность средств измерения должна быть согласована с точностью контролируемых с их помощью параметров систем управления и связи. Это означает, что допустимая погрешность прибора должна быть примерно втрое ниже значения допуска для контролируемого параметра. Напомним, что аналогичное требование накладывается на соотношение погрешностей рабочей и образцовой измерительной аппаратуры. [19]
Описанная выше методика поверки и расчета метрологических характеристик преобразователей является универсальной и может применяться независимо от того, каково соотношение погрешностей преобразователя и ТПУ. По такой методике при поверке выполняются многократные измерения, что требует больших затрат. Методика поверки ТПР может быть упрощена и может быть уменьшен объем измерений, если соотношение погрешностей ТПУ и преобразователя 1: 3 и менее, например, при использовании ТПУ 1-го разряда. [20]
Описанная выше методика поверки и расчета метрологических характеристик преобразователей является универсальной и может применяться независимо от того, каково соотношение погрешностей преобразователя и ТПУ. По такой методике при поверке выполняют многократные измерения, что требует больших затрат. Методика поверки ТПР может быть упрощена и может быть уменьшен объем измерений, если соотношение погрешностей ТПУ и преобразователя 1: 3 и менее, например, при использовании ТПУ 1-го разряда. Поверку преобразователя при этом производят в той же последовательности, что и ранее. Только в каждой точке диапазона производят меньше измерений, например, не более трех. Результаты обрабатывают следующим образом. [21]
Несмотря на широкую распространенность, такой подход не является строгим, ибо в изложенном варианте нарушается лежащее в основе обычного линейного МНК предположение о равноточности всех значений функции. Например, если значения у были равноточными, то значения z q ( x, у) могут таковыми уже не быть. Кроме того, если ранее соблюдалось условие меньшей погрешности х по сравнению с погрешностью у, то для нового аргумента u ty ( x, у) и новой функции z ( f ( x y) соотношение погрешностей может быть обратным. [22]
Несмотря на широкую распространенность, такой подход не является строгим, ибо в изложенном варианте нарушается лежащее в основе обычного линейного МНК предположение о равноточное всех значений функции. Например, если значения у были равноточными, то значения z q ( x, у) могут таковыми уже не быть. Кроме того, если ранее соблюдалось условие меньшей погрешности х по сравнению с погрешностью у, то для нового аргумента и ф ( х, у) и новой функции z ( p ( x, у) соотношение погрешностей может быть обратным. [23]
К первой группе относятся методы так называемой взрывной фотолитографии, при использовании которых линейная погрешность из-за подтравливания технологического слоя также положительна. Вторая более многочисленная группа процессов включает в себя традиционные методы последовательной и селективной фотолитографии и характеризуется отрицательным значением линейной погрешности. Очевидно, что в каждом конкретном случае знак линейной погрешности определяется соотношением погрешностей всех стадий процесса, но поскольку абсолютное значение погрешности при травлении значительно больше, чем всех предыдущих вместе взятых стадий процесса, знак линейной погрешности обычно совпадает со знаком погрешности при травлении. [24]
Здесь же указывают метрологические характеристики для данной ступени схемы. В нижней части схемы расположены рабочие средства измерений, которые в зависимости от их степени точности ( т.е. погрешности измерений) подразделяют на пять категорий: наивысшей точности; высшей точности; высокой точности; средней точности; низшей точности. Наивысшая точность обычно соизмерима со степенью погрешности средства измерения государственного эталона. В каждой ступени поверочной схемы регламентируется порядок ( метод) передачи размера единицы. Основным показателем достоверности передачи размера единицы величины является соотношение погрешностей средств измерений между вышестоящей и нижестоящей ступенями поверочной схемы. [25]