Cтраница 4
Структура низкоразмерных объектов не может быть определена только на основе метода рентгеновской дифракции. Известно, что наност-руктурные многокомпонентные пленки имеют очень широкие дифракционные максимумы низкой интенсивности, что обычно объясняется аморфным состоянием вещества, хотя кристаллическая природа нанос-труктурных пленок может быть подтверждена другими методами. Поэтому для характеристики низкоразмерных объектов рекомендуется использование комбинированного подхода с применением различных методов, таких как рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Рамановская спектроскопия, расширенные измерения поглощения рентгеновских лучей тонкой структурой ( EXAFS), электронная микроскопия высокого разрешения и спектроскопия энергетических потерь электронов. [46]
В зависимости от характера радиационного процесса и, в частности, от того, какой элементарный процесс играет определяющую роль, структура твердого тела ( молекулярный кристалл, аморфное тело) может по-разному сказываться на протекании химической реакции. В одних случаях развитию химического процесса может благоприятствовать регулярное кристаллическое строение твердого вещества, в других - наоборот - аморфное состояние вещества. [47]