Спекл-структура

Cтраница 3

В предыдущих параграфах мы регистрировали спекл-структуры, просто помещая фотопластинку на некотором расстоянии от диффузного объекта, освещаемого лазерным светом. [31]

Наблюдение негатива в первом порядке дифракции. [32]

При этом перемещаются все пятна спекл-структуры вместе с интерференционными полосами Предположим, что вследствие перемещения объекта А при второй экспозиции интерференционные полосы оказались сдвинутыми на величину, равную половине интервала, который их разделяет. Тогда максимумы, соответствующие первой экспозиции, належатся на минимумы, соответствующие второй экспозиции, и интерференционные полосы исчезнут во всех пятнах. [33]

Изменение спекл-структуры в плоскости. [34]

К к длине волны К К спекл-структура сжимается. Но мы не можем утверждать, что при сжатии сохраняется подобие с коэффициентом 1 - 8К / К. Для этого должны выполняться два условия, одно из которых налагается на отношение диаметра матового стекла к расстоянию до плоскости наблюдения ( § 1), а другое - на структуру его поверхности ( гл. [35]

То же, что на 59 ( запись одного изображения с интенсивностью 2. [36]

На фотопластинке Н получится еще одна спекл-структура, идентичная двум предыдущим. [37]

Действительно, размазывание ( усреднение) спекл-структуры наступает в случае, когда величина смещения ее элементов ( индивидуальных спек-лов) становится сравнимой с их размерами. Отметим, что речь не идет о дискретном ( однократном) смещении спеклов, составляющем предмет измерения средствами спекл-интерферометрии. Известно [75], что продольные размеры спеклов в среднем на порядок больше их поперечных смещений, что определяет и соотношение между допустимыми смещениями спекл-структуры в этих направлениях с учетом увеличения изображающей системы. При этом следует принимать во внимание, что поступательное продольное смещение объекта исследования сопровождается радиальным смещением сечений спеклов плоскостью регистрации с нарастанием от центра к периферии спекл-картины. [38]

Регистрация спекл-структуры, образованной светом, рассеянным диффузором Д и когерентным фоном, прошедшим через него без рассеяния. [39]

Если выполнено условие (1.18), то зарегистрированные спекл-структуры будут практически идентичны. В самом деле, изменим слегка условия опыта: между первой экспозицией в свете с длиной волны X и второй ( в свете с длиной волны А, ) сместим фотопластинку в поперечном направлении. Тогда будут осуществлены те же ус ловия, что и в опыте Берча и Токарского, и в спектре негатива будут наблюдаться полосы Юнга. [40]

Определение изменений наклона поверхности диффузного объекта. [41]

На участке изображения M M z наблюдаемая спекл-структура обусловлена интерференцией между двумя изображениями М М ч и М М1 при флюктуирующей разности хода А. [42]

Физической основой метода служит факт возникновения спекл-структуры при освещении когерентным светом незеркальной поверхности. Спекл-структура есть результат перекрестной интерференции диффузно рассеянной предметной волны, полностью детерминированной состоянием и расположением на освещаемой поверхности рассеивающих центров. Если данную поверхность сместить на достаточно малую величину XQ в собственной плоскости и ее изображение зарегистрировать на тот же самый фотоматериал, то на нем окажутся записанными две идентичные спекл-структуры, смещенные относительно друг друга на расстояние Мох0, где Л / о - масштаб изображения. [43]

Существо методов спекл-интерферометрии состоит в регистрации субъективных спекл-структур с последующим наблюдением в световом поле, рассеиваемом этими спекл-структурами при освещении их восстанавливающей волной, интерференционных полос ( так называемых полос корреляции интенсивности), возникающих в результате суперпозиции ( и интерференции) двух диффузно рассеянных волн. Обычно для наблюдения таких спекл-интерферограмм необходимо проводить пространственную фильтрацию поля, рассеиваемого двукратно экспонированной спекло-граммой. [44]

Это выражение аналогично выражению, описывающему спекл-структуру лазерного излучения. Спекл-структура возникает в тех случаях, когда на шероховатую поверхность падает когерентное лазерное излучение или когерентное излучение другой природы. При этом отдельные рассеиватели пространственно не разрешаются, однако интерференция рассеянных ими волн приводит к случайным флуктуациям результирующей интенсивности с высоким контрастом. Если та же самая поверхность освещается некогерентным световым пучком, то рассеянные волны складываются по интенсивности, что в результате усреднения приводит к низкому среднему контрасту. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5