Cтраница 2
Наконец, при нормальных щелях аппаратный контур состоит из центрального пика и почти монотонно опадающих крыльев. Вопрос об аподизации здесь должен решаться с учетом того, что одновременно с уменьшением высоты крыльев произойдет и существенное уменьшение ( величины ( светового потока в максимуме, контура. Вследствие этого применение аподизации может привести к существенному уменьшению отношения сигнал / шум в зарегистрированном спектре. [16]
![]() |
Записи участка спектра железа. [17] |
Способ оценки спектров под спектро-проектором часто удовлетворяет требованиям точности определения следов элементов. Вместе с точностью можно также увеличить чувствительность, если воспользоваться методами полуколичественного анализа ( разд. По сравнению с визуальным способом оценки спектров предел обнаружения можно снизить примерно в два раза путем фотометрирования спектров или измерения высоты пиков на зарегистрированных спектрах. Величина предела обнаружения ( б) данного метода, визуально едва различимая, легко идентифицируется при фотометрическом измерении записи. [18]
Наряду с этим весьма ценно рассмотрение масс-спектров неизвестных соединений, зарегистрированных на единой шкале чувствительности для получения общего-представления о спектре. Такой спектр может быть зарегистрирован очень быстро. То, что высота каждого пика регистрируется не с наибольшей возможной точностью, в данном случае не имеет значения. Точность зарегистрированного спектра с использованием шунтирующего оборудования достаточна, чтобы получить любую необходимую количественную информацию даже о малых пиках. При детальном рассмотрении спектра точность измерения малых пиков будет кажущейся, если их интенсивность по меньшей мере в 1000 раз не превышает фоновые шумы. Например, спектр 2 5-дихлортолуола представляет собой фотографию фактической записи. Общее время регистрации спектра от массы 50 до массы 165 составляло 3 мин. Несколько других примеров спектров эталонных соединений, записанных на единой шкале чувствительности, рассматриваются в гл. [19]
Существует по крайней мере два объективных фактора, стимулирующих дальнейшую разработку проблемы. С одной стороны, лавинообразно возрастает многообразие задач, решаемых методами оптической спектрометрии. Параллельно развиваются как традиционные методы ( благодаря внутреннему совершенствованию и оптимизации использования возможностей спектральной аппаратуры), так и новые, находящие все более широкое применение. Уже достаточно широк круг задач, где области применимости приборов различных классов перекрываются. В этой ситуации остро ощущается актуальность решения вопросов, связанных с оценкой и сопоставлением эффективности спектральных приборов при разработке новых методов получения оптических спектров или спектральных приборов нового типа. С аналогичной задачей сталкивается экспериментатор при выборе метода или прибора для решения спектроскопической задачи. С другой стороны, при анализе полученных на конкретном приборе результатов измерения желательно иметь определенную платформу, с позиций которой можно составить представление о качестве зарегистрированного спектра, о степени соответствия реальных данных прогнозируемым и тем самым - о качестве прибора и проведения эксперимента. [20]