Вторичный спектр

Cтраница 4

Должен внать: основы физики, общей в аналитической химия; устройство, назначение и пришщп работы блоков рентгеноспектраль-ных аппаратов, возбуждение первичных и вторичных спектров; разложение рентгеновских лучей в спектр и дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах; зависимость интенсивности вторичного рентгеновского излучения от состава анализируемого объекта; методы фокусировки кристаллов-анализаторов; схему качественного в количественного ревтгеноспектрального анализа; чувствительность анализа и область ere применения; возможные ошибки рентгеноспектрального анализа, способы их устранения и учета; основные параметры контролируемых технологических процессов; схему и пооперационные параметры отбора и подготовки проб к анализу; состав анализируемых продуктов в технологию их получения; методы корректировки расчетных шкал и раз аожения рентгеновских лучей в спектр. [46]

Должен знать: основы физики, общей и аналитической химик; устройство, назначение и принцип работы блоков рентгеноспектраль-ных аппаратов, возбуждение первичных и вторичных спектров; разложение рентгеновских лучей в спектр и дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах; зависимость интенсивности вторичного рентгеновского излучения от состава анализируемого объекта; методы фокусировки кристаллов-анализаторов; схему качественного и количественного рентгеноспектрального анализа; чувствительность анализа и область его применения; возможные ошибки рентгеноспектрального анализа, способы их устранения и учета; основные параметры контролируемых технологических процессов; схему и пооперационные параметры отбора и подготовки проб к анализу; состав анализируемых продуктов и технологию их получения; методы корректировки расчетных шкал и разложения рентгеновских лучей в спектр. [47]

Должен знать: основы физики, обшей и аналитической химии; устройство, назначение и принцип работы блоков рентгеноспектраль-ных аппаратов, возбуждение первичных и вторичных спектров; разложение рентгеновских лучей в спектр и дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах; зависимость интенсивности вторичного рентгеновского излучения от состава анализируемого объекта; методы фокусировки кристаллов-анализаторов; схему качественного и количественного рентгеноспектральнего анализа; чувствительность анализа в область ere применения; возможные ошибки рентгеноспектрального анализа, способы их устранения и учета; основные параметры контролируемых технологических процессов; схему и пооперационные параметры отбора в подготовки проб к анализу; состав анализируемых продуктов и технологию их получения; методы корректировки расчетных шкал в раз ложения рентгеновских лучей в спектр. [48]

Должен знать: основы физики, общей и аналитической химии; устройство, назначение и принцип работы блоков рентгеноспектральных аппаратов, возбуждение первичных и вторичных спектров; разложение рентгеновских лучей в спектр и дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах; зависимость интенсивности вторичного рентгеновского излучения от состава анализируемого объекта; методы фокусировки кристаллов-анализаторов; схему качественного и количественного рентгеноспектраль-ного анализа; чувствительность анализа и область его применения; возможные ошибки рентгеноспектрального анализа, способы их устранения и учета; основные параметры контролируемых технологических процессов; схему и пооперационные параметры отбора и подготовки проб к анализу; состав анализируемых продуктов и технологию их получения; методы корректировки расчетных шкал и разложения рентгеновских лучей в спектр. [49]

Испытательная телевизионная таблица 0249. [50]

Таким образом, при сделанных допущениях спектр телевизионного сигнала состоит из основных частот, кратных частоте строк и образующих первичную структуру спектра, и вторичных спектров, располагающихся до оо в обе стороны от каждой из основных частот. [51]

Для регистрации рентгеновских спектров могут использоваться вторичные эффекты, сопровождающие процесс взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, например флуоресцентный рентгеноспектральный анализ, основанный на регистрации вторичного спектра флуоресценции под действием рентгеновских лучей; эмиссионный рентгеноспектральный анализ, при котором регистрируется рентгеновский спектр, возбужденный электронами; абсорбционный рентгеноспектральный анализ; радиоизотопы и др. Нашли применение дисперсионные методы анализа материалов. [52]

Страницы: 1 2 3 4