Cтраница 2
К числу факторов, осложняющих исследования разрезов скважин спектрометрическим нейтронным гамма-методом, относятся: 1) трудность учета фонового гамма-излучения; 2) выполаживание связи интенсивностей / nv с содержанием искомого элемента в области его повышенных концентраций; 3) наложение аппаратурного спектра гамма-излучения. Учет этих факторов до настоящего времени вызывает определенные трудности. [16]
Основным источником информации о составе нуклидов з пробах являются аппаратурные спектры, косвенно отражающие первичные энергетические спектры излучателей, а также данные о природе и особенностях пробы, ее предыстории, возрасте смеси нуклидов и др. Получение качественной и количественной информации из аппаратурных спектров требует во многих случаях применения достаточно сложных методов, в особенности если в пробе содержится большое количество радионуклидов с близкими значениями энергии у-излучения и периода полураспада. [17]
Физические методы радиоизотопного анализа многокомпонентных смесей основаны на различии спектров излучения и периодов полураспада нуклидов, входящих в состав проб. Независимо от того, используются ли для анализа аппаратурные спектры отдельных типов излучений ( а -, р у-спектры) или комбинация спектров излучений различных типов, процесс спектрометрического анализа включает два основных этапа: идентификацию состава излучателей и вычисление их содержания. [18]
Исследование формы аппаратурных спектров различных мо-ноэнергетических уизлучателей с энергией 80 - 1460 кэВ, помещенных в неактивные среды толщиной более 2 г / см2 и с z3 6 - f - 16 ( значения, характерные для наиболее распространенных горных пород и почв), показало следующее. При постоянной насыпной плотности рнас и изменении 2Эф в названных интервалах аппаратурные спектры в области энергий более 100 кэВ не деформируются. Площади фотопиков с энергиями 30 - 50 кэВ уменьшаются приблизительно в 2 раза. [19]
Градуировка спектрометров заключается в энергетической градуировке шкалы амплитуд импульсов и определении разрешения, эффективности и фотоэффективности как функций энергии регистрируемого излучения. Кроме того, градуировка спектрометра включает измерение формы распределения амплитуд импульсов ( аппаратурных спектров) радионуклидов, входящих в состав проб. Геометрия измерений стандартных образцов выбирается в зависимости от активности, спектра излучения и вещественного состава анализируемых проб. [20]
Положение фотопика существенно изменяется, если он расположен в зоне максимума комптоновского распределения. Для установления истинной энергии фотопика при высоком уровне рассеянного излучения необходимо провести разложение аппаратурных спектров проб на спектры моноэнергетических - - ли-пнй или спектры отдельных нуклидов. [21]
Выражения ( 33) и ( 34) справедливы для случая, когда на интегрирующую ячейку поступают нормированные импульсы с формирователя, несущие постоянный заряд AQ. В случае подключения интегрирующей ячейки непосредственно к ФЭУ постоянство заряда не соблюдается. В зависимости от вида аппаратурного спектра сигнала ( см. рис. 78, б) значение г может колебаться в пределах ( 1 - 1 5), причем чем больше величина фотоэффективности регистрации, тем ближе ц к единице. [22]
Аппаратурный спектр гамма-излучения исследуемой про бы имеет вид непрерывного распределения, обусловленной комптоновским рассеиванием гамма-квантов в кристалле детек тора, на фоне которого имеются фотопики. Их местонахождешн определяется регистрируемой энергией гамма-лишш, а площад: ( интенсивность) - концентрацией соответствующего элемента При многокомпонентом составе анализируемой пробы появляетс большое количество фотопиков, площади которых могут частично или полностью перекрываться. В этих условиях процесс извлече ния необходимой информации из аппаратурного спектра стано вится трудоемким, а получающиеся результаты - неодно значными. [23]
Этот пик называется пиком вылета одного кванта или пиком одиночного вылета. Все эти паразитные эффекты, связанные с процессами регистрации у-излучения высокой энергии, необходимо учитывать при расшифровке аппаратурных спектров. На основе распределения амплитуд от моноэнергетического у-излучения сравнительно просто можно определить основные характеристики сцинтилляционного спектрометра. [24]